[发明专利]异常检测方法及装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种异常检测方法，其特征在于，所述方法包括：

对原始图像进行特征提取，得到第一特征图；

将所述第一特征图映射为第二特征图；

根据所述第二特征图，得到所述原始图像的异常热力图；

根据所述异常热力图，得到所述原始图像的异常检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一特征图映射为第二特征图，包括：

通过至少2次可逆转换处理，将所述第一特征图映射为所述第二特征图；

其中，所述至少2次可逆转换处理中的第r次可逆转换处理所采用的二维卷积核的尺寸与第(r+1)次可逆转换处理所采用的二维卷积核的尺寸不同。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述第一特征图包括多层级的特征图的情况下，所述将所述第一特征图映射为第二特征图，包括：

对所述多层级的特征图进行尺度归一化，得到多个第一待拼接特征图，所述多个第一待拼接特征图与所述多层级的特征图一一对应；

将所述多个第一待拼接特征图拼接为第三特征图；

对于所述第三特征图，通过至少2次可逆转换处理，得到所述第二特征图。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述第一特征图包括多层级的特征图的情况下，所述将所述第一特征图映射为第二特征图，包括：

对于所述多层级的特征图，通过至少两次可逆转换处理，得到多个第四特征图，所述多个第四特征图与所述多层级的特征图一一对应；

对所述多个第四特征图进行尺度归一化，得到多个第二待拼接特征图，所述多个第二待拼接特征图与所述多个第四特征图一一对应；

将所述多个第二待拼接特征图拼接为第五特征图；

对于所述第五特征图，通过至少2次可逆转换处理，得到所述第二特征图。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述第二特征图中的特征表示所述原始图像中对应位置的特征的概率密度估计；

所述根据所述第二特征图，得到所述原始图像的异常热力图，包括：

在通道维度，对所述第二特征图中位置对应的概率密度估计求平方和；

计算所述平方和的均值，得到待缩放特征图；

对所述待缩放特征图进行缩放，得到所述异常热力图。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述第一特征图包括多层级的特征图的情况下，所述将所述第一特征图映射为第二特征图，包括：

对于所述多层级的特征图，通过至少两次可逆转换处理，得到多个第二特征图，所述多个第二特征图与所述多层级的特征图一一对应，所述多个第二特征图中的特征表示所述原始图像中对应位置的特征的概率密度估计；

所述根据所述第二特征图，得到所述原始图像的异常热力图，包括：

对于所述多个第二特征图中的每个第二特征图，在通道维度，对所述每个第二特征图中位置对应的概率密度估计求平方和；

根据所述平方和，得到所述异常热力图。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述平方和，得到所述异常热力图，包括：

计算所述平方和的均值，得到所述每个第二特征图对应的待归一化特征图；

对所述待归一化特征图进行尺度归一化，以及对尺度归一化后的特征图进行融合，得到所述异常热力图。