[发明专利]一种高精度微曲面复光束光学检测方法和系统在审
申请号: | 202111355660.8 | 申请日: | 2021-11-16 |
公开(公告)号: | CN114049328A | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 蔡念;周广;何兆泉;陈梅云;王晗 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 禹小明 |
地址: | 510090 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 曲面 光束 光学 检测 方法 系统 | ||
1.一种高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,包括:
S1:向被测物体发射光束,采集被测物体旋转过程中的光束反射图像;
S2:对光束反射图像进行预处理,获得预处理图像;
S3:根据预处理图像,获得被测物体的旋转方向;
S4:根据预处理图像和旋转方向,计算被测物体的表面法向量,获得被测物体的表面法向量RGB图;
S5:对表面法向量RGB图进行处理,获得处理后的表面法向量;
S6:根据处理后的表面法向量计算被测物体上各点的深度值,组成被测物体的深度图;
S7:根据深度图重建被测物体的曲面模型。
2.根据权利要求1所述的高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,所述步骤S1中,利用位置固定的复光束角度传感器向被测物体发射光束。
3.根据权利要求1所述的高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,所述步骤S1中,利用位置固定的CMOS摄像机拍摄被测物体旋转过程中的光束反射图像。
4.根据权利要求1所述的高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,所述步骤S2中,对光束反射图像进行预处理为:
利用中值滤波器对光束反射图像进行平滑处理。
5.根据权利要求1所述的高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,所述步骤S3中,根据预处理图像,获得被测物体的旋转方向的具体方法为:
对所有预处理图像进行加和处理,形成光束反射的叠加图像;在叠加图像上,每张预处理图像上对应光束点形成一个圆圈;选取位于叠加图像中心的圆圈,利用OpenCV中的moments()函数计算该圆圈的重心,作为该圆圈的圆心;在该圆圈上选择相邻两张预处理图像对应的光束点,结合该圆圈的圆心,利用余弦定理计算两个光束点间的夹角,即方向的改变角度,进而确定被测物体的旋转方向。
6.根据权利要求1所述的高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,所述步骤S4中,根据预处理图像和旋转方向,计算被测物体的表面法向量的具体方法为:
被测物体的表面法向量与光束的照射方向、预处理图像的亮度值之间存在以下关系:
I=KdLNT
式中,I表示预处理图像的亮度值,Kd表示反射率,L表示单位化的光束的照射方向,N表示被测物体的表面法向量,(*)T表示求转置;光束的照射方向与被测物体的旋转方向的存在相对位置关系,被测物体的旋转方向即是光束的照射方向;
则被测物体的预处理图像上任意一点有:
式中,表示第n张预处理图像上位置坐标为(i,j)的像素点的亮度值,表示第n张预处理图像对应的光束照射方向在空间直角坐标系中x轴、y轴、z轴上的方向分量,表示第n张预处理图像上位置坐标为(i,j)的像素点在x轴、y轴、z轴上表面法向量分量。
7.根据权利要求1所述的高精度微曲面复光束光学检测方法,其特征在于,所述步骤S5中,对表面法向量RGB图进行处理具体包括:
S5.1:按照空间坐标系XYZ轴三个方向对被测物体的表面法向量RGB图进行分离,获得被测物体的三个单通道图像上表面法向量的数据分布;
S5.2:去除表面法向量中的异常值;
S5.3:根据数据分布的规律,对每个单通道图像上表面法向量进行插值拟合。
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