[发明专利]射出成型机管理系统以及存储介质在审
申请号: | 202111354482.7 | 申请日: | 2021-11-16 |
公开(公告)号: | CN114506044A | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 大月芳明;塚田恒;三间雄介 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | B29C45/76 | 分类号: | B29C45/76 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵曦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射出 成型 管理 系统 以及 存储 介质 | ||
1.一种射出成型机管理系统,其特征在于,具备:
测量数据存储部,按时间序列存储表示在射出成型机中测量的测量值的测量数据;
制造数据存储部,按时间序列存储表示与基于所述射出成型机的成型品的制造相关的信息的制造数据;以及
控制部,将每个预定的期间的所述测量数据的统计图与所述统计图的所述期间内的所述制造数据建立对应关系而显示于显示部。
2.根据权利要求1所述的射出成型机管理系统,其特征在于,
在所述制造数据中包含有与满足预定的品质基准的所述成型品的数量或者不满足所述品质基准的所述成型品的数量相关的信息。
3.根据权利要求1或2所述的射出成型机管理系统,其特征在于,
在所述制造数据中包含有与所述射出成型机的成型条件的变更历史相关的信息。
4.根据权利要求1所述的射出成型机管理系统,其特征在于,
所述统计图是箱线图。
5.根据权利要求4所述的射出成型机管理系统,其特征在于,
在所述箱线图中,以与所述测量数据的最大值或者最小值的显示形式不同的显示方式显示所述测量数据的偏离值。
6.根据权利要求4或5所述的射出成型机管理系统,其特征在于,
在进行了预定的操作的情况下,所述控制部切换以所述箱线图显示所述测量数据的第一显示模式和以折线图显示所述测量数据的第二显示模式。
7.根据权利要求1所述的射出成型机管理系统,其特征在于,
所述显示部设于便携终端。
8.一种存储介质,其特征在于,存储使计算机实现如下功能的计算机程序:
将表示在射出成型机中测量的测量值的测量数据按时间序列存储于存储部;
将表示与基于所述射出成型机的成型品的制造相关的信息的制造数据按时间序列存储于存储部;以及
将每个预定的期间的所述测量数据的统计图与所述统计图的所述期间内的所述制造数据建立对应关系而显示于显示部。
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