[发明专利]一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备

说明书

本发明提供了一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备，包括：对逻辑单元的信号进行分析，获得逻辑单元发生第一事件的概率；根据对逻辑单元模拟发生第一事件的结果，获得第一事件对逻辑单元性能的影响概率和逻辑单元在第一事件发生时的性能变化；根据发生第一事件的概率、影响概率和性能变化，确定逻辑单元在第一事件发生时的可靠性因子，从而可以通过可靠性因子更加准确地判断第一事件对逻辑单元可靠性的影响，进而可以通过可靠性因子对包括逻辑单元的集成电路的可靠性进行更加准确的评估。

技术领域

本发明实施例涉及集成电路设计技术领域，具体涉及一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备。

背景技术

集成电路主要由逻辑单元组成，逻辑单元发生的信号突变等事件，会导致逻辑单元的性能发生变化，进而导致集成电路不能满足正常工作的时序要求。因此，如何准确判断信号突变等事件对逻辑单元性能可靠性的影响，是本领域技术人员亟待解决的问题之一。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备，以通过可靠性因子更准确地判断信号突变等事件对逻辑单元性能可靠性的影响。

为解决上述问题，本发明实施例提供如下技术方案：

本申请第一方面提供了一种可靠性因子确定方法，包括：

对逻辑单元的信号进行分析，确定所述逻辑单元发生第一事件的概率；

根据对所述逻辑单元模拟发生第一事件的结果，确定所述第一事件对所述逻辑单元性能的影响概率和所述逻辑单元在所述第一事件发生时的性能变化；

根据所述发生第一事件的概率、所述影响概率和所述性能变化，确定所述逻辑单元在所述第一事件发生时的可靠性因子；所述可靠性因子用于验证所述逻辑单元的性能的可靠性。

本申请第二方面提供了一种可靠性评估方法，包括：

确定待验证电路中的各个逻辑单元，所述待验证电路包括多个逻辑单元；

确定所述待验证电路中各个逻辑单元在第一事件发生时的可靠性因子，所述可靠性因子根据所述逻辑单元发生第一事件的概率、所述第一事件对所述逻辑单元性能的影响概率和所述逻辑单元在所述第一事件发生时的性能变化确定的，所述发生第一事件的概率通过对所述逻辑单元的信号进行分析确定的，所述影响概率和所述性能变化根据对所述逻辑单元模拟发生第一事件的结果确定的；

根据所述待验证电路中各个逻辑单元的可靠性因子，评估所述待验证电路在第一事件发生时的可靠性。

本申请第三方面提供了一种可靠性因子确定装置，包括：

分析模块，用于对逻辑单元的信号进行分析，获得所述逻辑单元发生第一事件的概率；

第一处理模块，用于根据对所述逻辑单元模拟发生第一事件的结果，获得所述第一事件对所述逻辑单元性能的影响概率和所述逻辑单元在所述第一事件发生时的性能变化；

第二处理模块，用于根据所述发生第一事件的概率、所述影响概率和所述性能变化，确定所述逻辑单元在所述第一事件发生时的可靠性因子；所述可靠性因子用于验证所述逻辑单元的性能的可靠性。

本申请第四方面提供了一种可靠性评估装置，包括：

第一确定模块，用于确定待验证电路中的各个逻辑单元，所述待验证电路包括多个逻辑单元；

第二确定模块，用于确定所述待验证电路中各个逻辑单元在第一事件发生时的可靠性因子，所述可靠性因子根据所述逻辑单元发生第一事件的概率、所述第一事件对所述逻辑单元性能的影响概率和所述逻辑单元在所述第一事件发生时的性能变化确定的，所述发生第一事件的概率通过对所述逻辑单元的信号进行分析确定的，所述影响概率和所述性能变化根据对所述逻辑单元模拟发生第一事件的结果确定的；