[发明专利]一种硬盘寿命分析方法、系统、存储介质及设备

说明书

本发明提供了一种硬盘寿命分析方法、系统、存储介质及设备，方法包括：在硬盘的运行过程中，按照预设顺序每次获取硬盘中两个块的块信息，从两个块信息中分别读取每个块的擦除次数信息，将读取的两个块的擦除次数信息中的擦除次数值进行比较，并将其中小的擦除次数值缓存到第一数组，将其中大的擦除次数值缓存到第二数组，并将读取的块的个数进行累加计数；根据计数的值判断是否将硬盘中所有块的擦除次数信息全部读取完成；若全部读取完成，利用分治法在第一数组中查找出最小擦除次数值，在第二数组中查找出最大擦除次数值；基于最小擦除次数值和最大擦除次数值对硬盘的寿命进行分析。本发明在不占用额外资源的情况下即时获得硬盘的块的擦除信息。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，尤其涉及一种硬盘寿命分析方法、系统、存储介质及设备。

背景技术

在高速发展的数字化时代，对于数据信息的共享与传输已经达到了新的数量级，以前的机械硬盘和常规小容量固态硬盘已经无法满足当前的读取速度。由于SSD(固态硬盘)的存储介质——Flash(闪存颗粒)不能覆盖写的特性，在SSD的固件设计中会有磨损均衡和垃圾回收等延长SSD寿命的功能。除此之外，由于Flash的擦除次数是有限的，获知Flash的擦除次数有利于对SSD的寿命进行研究分析。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种硬盘寿命分析方法、系统、存储介质及设备，用以通过获知硬盘中闪存颗粒的擦除次数而对硬盘的寿命进行分析。

基于上述目的，本发明提供了一种硬盘寿命分析方法，包括以下步骤：

在硬盘的运行过程中，按照预设顺序每次获取硬盘中两个块的块信息，并从两个块信息中分别读取每个块的擦除次数信息，且将读取的两个块的擦除次数信息中的擦除次数值进行比较，并将其中小的擦除次数值缓存到第一数组，且将其中大的擦除次数值缓存到第二数组，并将读取的块的个数进行累加计数；

根据计数的值判断是否将硬盘中所有块的擦除次数信息全部读取完成；

响应于将硬盘中所有块的擦除次数信息全部读取完成，利用分治法在第一数组中查找出最小擦除次数值，并在利用分治法第二数组中查找出最大擦除次数值；

基于最小擦除次数值和最大擦除次数值对硬盘的寿命进行分析。

在一些实施例中，按照预设顺序每次获取硬盘中两个块的块信息包括：

根据硬盘中每个块的序号每次获取一个序号最小的块的块信息，且获取一个序号最大的块的块信息。

在一些实施例中，方法还包括：

将所有块的擦除次数值累加，以得到总擦除次数值，并基于总擦除次数值以及所有块的总数得到平均擦除次数值。

在一些实施例中，基于最小擦除次数值和最大擦除次数值对硬盘的寿命进行分析包括：

基于最小擦除次数值、最大擦除次数值以及平均擦除次数值对硬盘的寿命进行分析。

在一些实施例中，方法还包括：

将最小擦除次数值、最大擦除次数值以及平均擦除次数值上传至smartvendor模块。

在一些实施例中，按照预设顺序每次获取硬盘中两个块的块信息包括：

通过SMART技术按照预设顺序每次获取硬盘中两个块的块信息。

在一些实施例中，硬盘为固态硬盘。

本发明的另一方面，还提供了一种硬盘寿命分析系统，包括：