[发明专利]双曲线漏斗测量装置及其测量方法有效
申请号: | 202111338447.6 | 申请日: | 2021-11-12 |
公开(公告)号: | CN114087945B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 李浩 | 申请(专利权)人: | 中国华冶科工集团有限公司;华北冶建工程建设有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01B11/00 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 袁文婷;张娓娓 |
地址: | 100176 北京市大兴*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双曲线 漏斗 测量 装置 及其 测量方法 | ||
1.一种双曲线漏斗测量装置,其特征在于,包括设置在待测漏斗下方的基座以及转动连接在所述基座上的横向可调支杆,在所述横向可调支杆上设置有测量尺和测距仪;其中,
所述测量尺在所述横向可调支杆上沿水平方向铺设,并且初始刻度与所述待测漏斗的中轴线对齐;
所述测距仪滑动连接在所述横向可调支杆的顶面并可沿所述测量尺的方向移动,所述测距仪用于测量所述测距仪与所述待测漏斗之间的距离。
2.如权利要求1所述的双曲线漏斗测量装置,其特征在于,
所述基座为“圆钉”型结构;并且,
所述基座的下端钉在所述待测漏斗的下方的地面上。
3.如权利要求2所述的双曲线漏斗测量装置,其特征在于,
在所述基座上设置有回转机构,所述横向可调支杆通过所述回转机构与所述基座转动连接;其中,
所述回转机构包括通过周向可调螺栓固定在所述基座的顶面的调平板,所述调平板通过轴承与所述横向可调支杆的中部转动连接。
4.如权利要求3所述的双曲线漏斗测量装置,其特征在于,
所述横向可调支杆包括中部与所述基座转动连接的方形母管和套设在所述方形母管两端内的方形子管;其中,
两个所述方形子管均通过锁紧螺钉与所述方形母管固定。
5.如权利要求4所述的双曲线漏斗测量装置,其特征在于,
在所述方形子管的顶部滑动连接有H型卡座,所述测距仪固定在所述H型卡座上。
6.如权利要求5所述的双曲线漏斗测量装置,其特征在于,
在所述H型卡座上设置有第一压紧螺钉;并且,
当所述H型卡座移动至与所述测量尺的预设刻度位置时,所述H型卡座通过所述第一压紧螺钉与所述方形子管固定。
7.如权利要求5所述的双曲线漏斗测量装置,其特征在于,
所述测量尺为卷尺;并且,
所述测量尺的尺盒固定在所述方形子管远离所述方形母管的一端,所述测量尺的始端延伸至所述方形母管上的预设的卡槽内并通过第二压紧螺钉与所述方形母管固定。
8.一种双曲线漏斗测量方法,其特征在于,利用如权利要求1至7中任意一项所述的双曲线漏斗测量装置对待测漏斗进行测量,所述测量方法包括:
确定所述待测漏斗的中轴线,并基于所述中轴线在所述待测漏斗的下方固定所述基座;
在所述基座上设置回转机构和所述横向可调支杆,并调整所述回转机构以使所述横向可调支杆水平;
在所述横向可调支杆上安装所述测量尺和所述测距仪;
通过所述测距仪配合所述测量尺对所述待测漏斗进行测量。
9.如权利要求8所述的双曲线漏斗测量方法,其特征在于,确定所述待测漏斗的中轴线,并基于所述中轴线在所述待测漏斗的下方固定所述基座包括:
在所述待测漏斗的上方的中心位置吊设线坠,通过所述线坠确定所述待测漏斗的中轴线;
在地面上确定与所述线坠上下对齐的标记点,将所述基座钉设在所述标记点上。
10.如权利要求8所述的双曲线漏斗测量方法,其特征在于,所述通过所述测距仪配合所述测量尺对所述待测漏斗进行测量包括:
滑动所述测距仪的位置、转动所述横向可调支杆,并通过所述测距仪测量所述待测漏斗的不同位置的高度。
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