[发明专利]一种可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法

权利要求书

1.一种可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，包括如下步骤：

第一步，分别采集两类环境样本：待测颗粒物样本(如大气细颗粒物样本)以及典型排放源的样本；

第二步，实验室分析待测颗粒物样本和典型排放源样本的同位素比值特征(δ⁶⁵Cu)以及特征金属比值，其中，所述特征金属比值包括：La/Ce，Zn/Cd，Ni/V，Fe/Al；

其中，所述特征金属比值指的是不同排放源中相对独特的某两种金属的物质量浓度的比值；

第三步，借助贝叶斯模型(3)式求得各典型排放源的贡献度f_i，

f_i表示典型排放源对环境颗粒物的贡献度，单位：％。

2.根据权利要求1所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，还包括：第四步，验证解析方法的准确性：

实验室分析待测环境颗粒物样本和典型排放源样本的硅同位素比值特征(δ³⁰Si)，将各典型排放源的δ³⁰Si_i和f_i代入(4)式，得到待测颗粒物的硅同位素比值特征δ³⁰Si的计算值δ³⁰Si_cal，将所述计算值δ³⁰Si_cal与待测颗粒物的硅同位素比值特征δ³⁰Si的实测值δ³⁰Si_obs比较，根据计算值δ³⁰Si_cal与观测值δ³⁰Si_obs是否接近，验证解析方法的准确性；

δ³⁰Si_cal＝∑(δ³⁰Si_i×f_i) (4)

式中，i指排放源的序号。

3.根据权利要求1或2所述的可实现自验证的环境颗粒态污染物来源解析的方法，其特征在于，在第二步之后，还包括：根据以上获取的待测细颗粒物和典型排放源的同位素比值特征δ⁶⁵Cu和所述特征金属比值，构建Ni/V-δ⁶⁵Cu，La/Ce-δ⁶⁵Cu，Zn/Cd-δ⁶⁵Cu，Fe/Al-δ⁶⁵Cu二维指纹图，并根据待测细颗粒物与典型排放源的二维指纹图谱的相对位置关系，进行定性分析。

4.根据权利要求3所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，在特征金属比值-δ⁶⁵Cu二维指纹图谱中，排放源的分布位置靠近颗粒物的分布位置的，对其贡献较大；反之，则贡献较小。

5.根据权利要求1或2所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，Cu和Si同位素还可以换成Pb，Fe或Zn同位素。

6.根据权利要求1或2所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，所述待测颗粒物样本数量不低于15个，每类典型排放源的样本数量不低于5个。

7.根据权利要求1或2所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，特征金属La，Ce，Zn，Cd，Ni，V，Fe，Al通过如下方式获取：取适量样品加10ml高纯浓王水(HNO₃：HCl＝1:3,v/v)，200℃微波消解15min，过滤定容，使用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测得。