[发明专利]三维线圈磁场均匀性测试方法及系统

权利要求书

1.一种三维线圈磁场均匀性测试方法，其特征在于，所述三维线圈磁场均匀性测试方法包括：

设计与被测线圈磁场区域相同大小的非金属六面体工装块(70)；

选取六个三轴磁阻传感器，将第一磁阻传感器(10)沿线圈磁场Z方向设置在所述非金属六面体工装块(70)的第一面的中心位置，将第二磁阻传感器(20)沿线圈磁场Z方向设置在所述非金属六面体工装块(70)的第二面的中心位置，所述第一面和所述第二面平行设置；将第三磁阻传感器(30)沿线圈磁场X方向设置在所述非金属六面体工装块(70)的第三面的中心位置，将第四磁阻传感器(40)沿线圈磁场X方向设置在所述非金属六面体工装块(70)的第四面的中心位置，所述第三面和所述第四面平行设置且垂直于所述第一面；将第五磁阻传感器(50)沿线圈磁场Y方向设置在所述非金属六面体工装块(70)的第五面的中心位置，将第六磁阻传感器(60)沿线圈磁场Y方向设置在所述非金属六面体工装块(70)的第六面的中心位置，所述第五面和所述第六面平行设置且同时垂直于所述第一面和所述第三面；

将所述非金属六面体工装块(70)固定在三维线圈(80)的中心位置，在所述三维线圈(80)的外部套上磁屏蔽桶(90)及端盖(100)；

为Z方向线圈提供激励电流并保持第一设定时长，断电并保持第一设定时长，重复上述过程第一设定次数后，根据所述第一磁阻传感器(10)和所述第二磁阻传感器(20)的磁场值计算获取Z方向线圈的磁场均匀性；为X方向线圈提供激励电流并保持第二设定时长，断电并保持第二设定时长，重复上述过程第二设定次数后，根据所述第三磁阻传感器(30)和所述第四磁阻传感器(40)的磁场值计算获取X方向线圈的磁场均匀性；为Y方向线圈提供激励电流并保持第三设定时长，断电并保持第三设定时长，重复上述过程第三设定次数后，根据所述第五磁阻传感器(50)和所述第六磁阻传感器(60)的磁场值计算获取Y方向线圈的磁场均匀性。

2.根据权利要求1所述的三维线圈磁场均匀性测试方法，其特征在于，为Z方向线圈提供激励电流并保持第一设定时长，断电并保持第一设定时长，重复上述过程第一设定次数后，根据所述第一磁阻传感器(10)和所述第二磁阻传感器(20)的磁场值计算获取Z方向线圈的磁场均匀性具体包括：

在第一周期内，为Z方向线圈提供激励电流并保持第一设定时长，断电并保持第一设定时长，依次采集所述第一周期内的所述第一磁阻传感器(10)的N1个磁场数据，根据所述第一磁阻传感器(10)的N1个磁场数据计算获取所述第一磁阻传感器(10)的第一周期平均分值；依次采集所述第一周期内的所述第二磁阻传感器(20)的B1个磁场数据，根据所述第二磁阻传感器(20)的B1个磁场数据计算获取所述第二磁阻传感器(20)的第一周期平均分值；

在第二周期内，为Z方向线圈提供激励电流并保持第一设定时长，断电并保持第一设定时长，依次采集所述第二周期内的所述第一磁阻传感器(10)的N2个磁场数据，根据所述第一磁阻传感器(10)的N2个磁场数据计算获取所述第一磁阻传感器(10)的第二周期平均分值；依次采集所述第二周期内的所述第二磁阻传感器(20)的B2个磁场数据，根据所述第二磁阻传感器(20)的B2个磁场数据计算获取所述第二磁阻传感器(20)的第二周期平均分值；

重复上述过程，依次求取所述第一磁阻传感器(10)的第三周期平均分值、第四周期平均分值…第一设定次数周期平均分值，根据所述第一磁阻传感器(10)的第一周期平均分值、第二周期平均分值…第一设定次数周期平均分值计算获取所述第一磁阻传感器(10)的平均值；依次求取所述第二磁阻传感器(20)的第三周期平均分值、第四周期平均分值…第一设定次数周期平均分值，根据所述第二磁阻传感器(20)的第一周期平均分值、第二周期平均分值…第一设定次数周期平均分值计算获取所述第二磁阻传感器(20)的平均值；

根据所述第一磁阻传感器(10)的平均值和所述第二磁阻传感器(20)的平均值计算获取所述Z方向线圈的磁场均匀性。

3.根据权利要求2所述的三维线圈磁场均匀性测试方法，其特征在于，所述Z方向线圈的磁场均匀性可根据或来获取，其中，Q1为所述第一磁阻传感器(10)的平均值，Q2为所述第二磁阻传感器(20)的平均值。