[发明专利]继电器机械寿命测试方法和系统

说明书

本申请公开了一种继电器机械寿命测试方法和系统，涉及测试技术，方法包括以下步骤：按照第一测试信号进行预设次数的预测试，所述预设次数小于总测试次数的5％；根据多个预测试中继电器的响应时间的统计值，估算第二测试信号所需的维持时间；根据第二测试信号对继电器进行余下测试，其中，所述第一测试信号维持时间大于所述第二测试信号维持时间。本申请可以缩短测试的时间，提升测试效率。

技术领域

本申请涉及测试技术，特别是一种继电器机械寿命测试方法和系统。

背景技术

继电器的寿命测试有很多种，其中，比较重要的是机械部分的寿命。现有的测试方法是在继电器的控制端施加一个电压信号，随后断开，并且不断重复这一测试过程，直到满足一定的测试次数或者继电器损坏。

通常，测试信号的维持时间由于继电器的差异，动作时间会有数十毫秒的偏差，因此会为测试信号预留较大的冗余。虽然每次测试的周期很短，但是测试往往需要重复数万次甚至是数十万次。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种继电器机械寿命测试方法和系统，以压缩测试时间。

一方面，本申请实施例提供了一种继电器机械寿命测试方法，包括以下步骤：

按照第一测试信号进行预设次数的预测试，所述预设次数小于总测试次数的5％；

根据多个预测试中继电器的响应时间的统计值，估算第二测试信号所需的维持时间；

根据第二测试信号对继电器进行余下测试，其中，所述第一测试信号维持时间大于所述第二测试信号维持时间。

在一些实施例中，所述根据多个预测试中继电器的响应时间的统计值，估算第二测试信号所需的维持时间，具体为：

根据所述响应时间的平均值和预设维持时间之和确定最小维持时间；

将所述最小维持时间乘以大于1的经验系数，得到第二测试信号的维持时间。

在一些实施例中，所述根据第二测试信号对继电器进行余下测试，具体为：

根据第二测试信号对继电器进行测试，直到满足测试次数，或者所述继电器无法动作。

在一些实施例中，测试设备向所述继电器输出的控制信号是第二测试信号和第三信号间隔组成的方波，其中，第三信号为第二测试信号相反的电平。

在一些实施例中，还包括以下步骤：当检测到继电器的受控端无信号更替时，记录故障出现时的测试次数，判定继电器失效，并停止进行余下测试。

在一些实施例中，还包括以下步骤：当检测到继电器的受控端无信号更替时，记录故障出现时的测试次数，并继续进行测试，记录无信号更替的次数。

在一些实施例中，还包括以下步骤：

生成测试报告，所述测试报告包括每个样品的最大响应时间、最小响应时间、平均响应时间、开关平均寿命。

另一方面，本申请实施例提供了一种继电器机械寿命测试系统，包括：

继电器安装座，所述继电器安装座用于安装继电器；

控制器，连接所述继电器安装座，用于通过所述继电器安装座向继电器输出测试信号，以及通过所述继电器安装座检测继电器受控端的响应信号，以及执行继电器机械寿命测试方法。

另一方面，本申请实施例提供了一种继电器机械寿命测试系统，包括：

存储器，用于存储程序；

处理器，用于加载所述程序以执行继电器机械寿命测试方法。