[发明专利]一种DRAM测试系统

说明书

本发明公开了一种DRAM测试系统，包括服务器，所述服务器通过路由器连接有若干个测试设备，每个所述测试设备的外部均设置有主三色灯和若干个待测内存插槽，每个所述待测内存插槽的一侧均设置有内存指示三色灯，每个所述测试设备的内部均设置有CPU和程序运行内存；所述路由器为有线或无线；每个所述测试设备的若干个待测内存插槽组成待测内存，所述待测内存和程序运行内存均通过系统总线连接至CPU，每个所述测试设备的主三色灯和内存指示三色灯均电性连接至CPU。本发明将待测内存和程序运行内存分开，解决存在缺陷内存的测试结果不确定的问题；测试系统增加了服务器，解决了测试程序、程序参数等更新、测试日志、程序日志搜集等问题。

技术领域

本发明涉及DRAM测试系统技术领域，具体为一种DRAM测试系统。

背景技术

现有DRAM测试系统的测试程序一般运行在待测内存上，即待测内存和程序运行内存为一体式，因而存在缺陷内存的测试结果不确定的问题；此外，现有DRAM测试系统没有专门的服务器，因而存在测试程序、程序参数等更新、测试日志、程序日志搜集等问题，实际测试使用时不够方便。

基于此，本发明设计了一种DRAM测试系统。

发明内容

本发明的目的在于提供一种DRAM测试系统，以解决背景技术中提出的现有DRAM测试系统的测试程序一般运行在待测内存上，即待测内存和程序运行内存为一体式，因而存在缺陷内存的测试结果不确定的问题；此外，现有DRAM测试系统没有专门的服务器，因而存在测试程序、程序参数等更新、测试日志、程序日志搜集等问题，实际测试使用时不够方便的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种DRAM测试系统，包括服务器，所述服务器通过路由器连接有若干个测试设备，每个所述测试设备的外部均设置有主三色灯和若干个待测内存插槽，每个所述待测内存插槽的一侧均设置有内存指示三色灯，每个所述测试设备的内部均设置有CPU和程序运行内存。

作为本发明的进一步方案，所述路由器为有线或无线。

作为本发明的进一步方案，每个所述测试设备的若干个待测内存插槽组成待测内存，所述待测内存和程序运行内存均通过系统总线连接至CPU，每个所述测试设备的主三色灯和内存指示三色灯均电性连接至CPU。

作为本发明的进一步方案，每个所述测试设备上主三色灯的三色分别表示“异常”、“测试中”和“测试结束”三种状态。

作为本发明的进一步方案，每个所述待测内存插槽的一侧的内存指示三色灯的三色分别表示“异常”、“测试通过”和“测试失败”三种状态。

作为本发明的进一步方案，所述程序运行内存为DRAM或SRAM。

与现有技术相比，本发明的有益效果为：

（1）、本发明将待测内存和程序运行内存分开，解决存在缺陷内存的测试结果不确定的问题；

（2）、本发明的测试系统增加了服务器，若干个测试设备使用有线或者无线通过路由器与服务器连接，解决测试程序，程序参数等更新，测试日志，程序日志搜集等问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一种DRAM测试系统的整体结构原理示意图；

图2为本发明一种DRAM测试系统的测试设备外部结构示意图；

图3为本发明一种DRAM测试系统的测试设备内部结构示意图。

具体实施方式