[发明专利]一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法

权利要求书

1.一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：测量被测轴承上列圆锥滚子自锁时，滚子的下沉量，记为△H；

步骤二：将测量表与被测轴承中上部内圈的上端面接触，调整测量表示数为+△H；

步骤三：将标准隔圈置入被测轴承的上部内圈和下部内圈之间；

步骤四：旋转上部内圈，记录测量表读数为X，X为被测轴承的实测轴向游隙；

步骤五：通过公式△C₁C₁ = △C₀C₀-（X-Ga）计算实际隔圈尺寸公差，其中△C₁C₁

为实际隔圈的尺寸公差，△C₀C₀为标准隔圈的理论公差，Ga为标准轴向游隙；

步骤六：根据实际隔圈的尺寸公差加工隔圈产品，并装配到对应轴承中。

2.根据权利要求1所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：对于步骤一中，△H的测量方法，包括以下步骤：

步骤1、将一组内组件装配到外圈中形成被测轴承组件，将被测轴承组件放置在测量平台上，使装配的内组件位于被测轴承组件的下部，内圈的下端面与测量平台接触；将测量表与外圈上端面接触，将测量表调到零位；

步骤2、将被测轴承组件翻转180°，使装配的内组件位于被测轴承组件的上部，外圈下端面与测量平台接触；保持测量表不动，使翻转到上部的内圈的上端面与测量表接触，读取测量表示数，测量表示数即为滚子的下沉量△H；

步骤3、将另一组内组件装配到外圈中形成被测轴承。

3.根据权利要求2所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：所述内组件包括圆锥滚子和内圈。

4.根据权利要求2所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：对于步骤1中，测量表测量前旋转外圈，使滚道与圆锥滚子充分接触，被测轴承组件各部件处于正常位置。

5.根据权利要求2所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：对于步骤2中，测量表测量前旋转内圈，使滚道与圆锥滚子充分接触，被测轴承组件各部件处于正常位置。

6.根据权利要求1或2所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：滚子的下沉量△H为滚子达到自锁状态时，滚子的轴向位移。

7.根据权利要求1或2所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：所述测量表为百分表。

8.根据权利要求1所述的一种双列圆锥滚子轴承游隙调整方法，其特征在于：所述Ga取标准轴向游隙范围的最大值。