[发明专利]探针调整方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请公开了一种探针调整方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括：获取探针的初始位置信息；其中，初始位置信息为探针根据预设的校准基准面校准后的位置信息；获取校准基准面的高度信息，得到第一高度信息；获取PCBA板的高度信息，得到第二高度信息；获取探针的安装角度，得到安装角度信息；根据第一高度信息、第二高度信息和安装角度信息得到偏差补偿信息；根据偏差补偿信息对初始位置信息进行补偿处理，得到目标位置信息；根据目标位置信息调整探针的位置。本申请的探针调整方法，能够对探针的位置进行实时调整，从而便于飞针测试设备实现对多层PCBA板的扎针标点，提高飞针测试设备扎针标点的准确性。

技术领域

本申请涉及探针技术领域，尤其涉及一种探针调整方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

电子制造公司在生产制造电子类产品的过程中，会产生许多多层的PCBA板。这些PABA板需要采用飞针测试设备进行检测，在使用飞针测试设备检测PCBA板时，需要进行扎针标点。但是，目前的飞针测试设备都是在一个平面上实现扎针标点的，不能实现对多层PCBA板的的扎针标点。

发明内容

本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种探针调整方法，能够对探针的位置进行实时调整，从而便于飞针测试设备实现对多层PCBA板的扎针标点，提高飞针测试设备扎针标点的准确性。

本申请还提出一种探针调整装置。

本申请还提出一种电子设备。

本申请还提出一种存储介质。

根据本申请的第一方面实施例的探针调整方法，包括：

获取探针的初始位置信息；其中，初始位置信息为探针根据预设的校准基准面校准后的位置信息；

获取校准基准面的高度信息，得到第一高度信息；

获取PCBA板的高度信息，得到第二高度信息；

获取探针的安装角度，得到安装角度信息；

根据第一高度信息、第二高度信息和安装角度信息得到偏差补偿信息；

根据偏差补偿信息对初始位置信息进行补偿处理，得到目标位置信息；

根据目标位置信息调整探针的位置。

根据本申请实施例的探针调整方法，至少具有如下有益效果：通过第一高度信息和第二高度信息计算出PCBA板的厚度信息，然后根据测试得到的探针安装角度信息，计算出探针的偏差补偿信息，然后依据计算得到的偏差补偿信息对探针的初始位置信息进行补偿处理，得到目标位置信息，再将探针的位置调整到目标位置信息对应的目标位置处。实现了对探针位置的实时调整，从而便于飞针测试设备实现对多层PCBA板的扎针标点，提高飞针测试设备扎针标点的准确性。

根据本申请的一些实施例，安装角度信息包括：横坐标角度信息；偏差补偿信息包括横坐标补偿信息；

根据第一高度信息、第二高度信息和安装角度信息得到偏差补偿信息，包括：

计算第一高度信息和第二高度信息的差值，得到高度差值信息；

根据高度差值信息和横坐标角度信息得到横坐标补偿信息。

根据本申请的一些实施例，安装角度信息包括纵坐标角度信息；偏差补偿信息包括纵坐标补偿信息；

根据第一高度信息、第二高度信息和安装角度信息得到偏差补偿信息，还包括：

根据高度差值信息和纵坐标角度信息得到纵坐标补偿信息。

根据本申请的一些实施例，偏差补偿信息还包括竖坐标补偿信息；