[发明专利]电器元件触点损耗评估方法

说明书

本申请适用于电器元件检测技术领域，提供了一种电器元件触点损耗评估方法，包括：获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；当根据线圈的初始上电时间和主回路的初始上电时间，判定触点未出现导通故障时，根据线圈的初始上电时间、主回路的初始上电时间和主回路的电流，计算触点的本次导通损耗和累计导通损耗；根据累计导通损耗，评估触点是否损耗过度。本申请实施例提供的电器元件触点损耗评估方法，将触点损耗量化，能够有效排查出触点损耗过度但仍可正常工作的电器元件，帮助用户准确识别带病工作的电器元件。

技术领域

本申请属于电器元件检测技术领域，尤其涉及一种电器元件触点损耗评估方法。

背景技术

在继电器和接触器等传统电器元件中，常会使用线圈和触点控制主回路的导通或截止。触点长期受大电流冲击，其表面容易出现氧化并形成凹坑。这些损耗持续积累，会造成继电器和接触器故障操作，进而给整个电路系统及设备运行造成障碍。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种电器元件触点损耗评估方法，以解决目前因无法对触点损耗进行有效评估而引起的电器元件故障的问题。

根据第一方面，本申请实施例提供了一种电器元件触点损耗评估方法，包括：获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；所述主回路的初始上电时间的判断依据为任一相电流大于预设的阈值；所述主回路为受所述电器元件中的触点控制的电回路；根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，判断所述触点是否出现导通故障；当所述触点未出现导通故障时，根据所述线圈的初始上电时间、所述主回路的初始上电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次导通损耗和累计导通损耗；根据所述累计导通损耗，评估所述触点是否损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，当所述触点出现导通故障时，确定所述触点损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，包括：根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，计算所述触点的吸合时间；当所述吸合时间在预设的第一时间以内时，对所述主回路的电流连续进行若干个市电周期的有效值监测；若某个或某几个有效值小于预设的阈值，则确定所述触点出现抖动导通故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：当所述吸合时间在预设的第一时间以内，且所述若干个有效值全部大于预设的阈值，确定所述触点未出现导通故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：当所述吸合时间大于预设的第一时间且小于预设的第二时间时，确定所述触点出现卡滞导通故障；所述第二时间大于所述第一时间。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：从所述线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间后，当所述主回路始终没有电流时，确定所述触点出现开路故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：从所述线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间后，当所述主回路中的某一相始终没有电流时，确定所述触点出现缺相导通故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述电器元件触点损耗评估方法还包括：获取电器元件中线圈的初始断电时间，以及主回路的初始断电时间；所述主回路的初始断电时间判断依据为三相电流全部小于预设的阈值；根据所述线圈的初始断电时间和所述主回路的初始断电时间，判断所述触点是否出现断开故障；当所述触点未出现断开故障时，根据所述线圈的初始断电时间、所述主回路的初始断电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次断开损耗和累计断开损耗；根据所述累计断开损耗，评估所述触点是否损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，当所述触点出现断开故障时，确定所述触点损耗过度。