[发明专利]一种SDH数据质量分析方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111296942.5 申请日: 2021-11-03
公开(公告)号: CN114020519A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 陈泽华;张杰;冯子滕 申请(专利权)人: 深圳市东晟数据有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 王建成;彭南彪
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 sdh 数据 质量 分析 方法 系统
【说明书】:

发明公开了一种SDH数据质量分析方法及系统,该方法包括分别对SDH数据进行传输层和应用层的数据分析;传输层的数据分析包括:从SDH输入数据里提取单帧数据,提取各类与校验相关的开销字节并计算、对比每帧的校验和,如果当前帧数据计算校验和与上一帧开销校验和一致则认为数据正确,如果不一致则认为出现一次误码;应用层的数据分析包括:S1:从SDH输入数据里提取单帧、复帧数据,对开销字节进行解析,得到复用结构、承载业务类型和净负荷数据;S2:根据S1中的承载业务类型对C‑4‑Xc或C‑4、C‑3、C‑2、C‑12、C‑11的净负荷数据和时隙TS数据进行质量检查。本发明技术方案实现了对SDH数据在传输层和应用层进行全面分析。

技术领域

本发明涉及数据分析技术领域,特别涉及一种SDH数据质量分析方法及系统。

背景技术

当前SDH数据质量分析方法,大部分采取传输层开销字段计算方案,即通过原始数据计算、与开销字节对比的方法,其处理框架如图1所示,其中,上一帧校验和是通过上一帧原始数据计算得到上一帧校验和SUM1。当前帧开销字段是通过B1、B2、B3、V5等开销字段得到上一帧校验和SUM2。误码统计是对比SUM1与SUM2得到误码情况。一般的分析方法只有传输层误码统计,不支持应用层数据误码统计,无法获知应用层的实际可用情况。

因此,现有技术存在缺陷,需要改进。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种SDH数据质量分析方法及系统,旨在对SDH数据在传输层和应用层进行全面分析。

为实现上述目的,本发明提出的一种SDH数据质量分析方法,包括分别对SDH数据进行传输层和应用层的数据分析;

传输层的数据分析包括:从SDH输入数据里提取单帧数据,提取各类与校验相关的开销字节并计算、对比每帧的校验和,如果当前帧数据计算校验和与上一帧开销校验和一致则认为数据正确,如果不一致则认为出现一次误码;

应用层的数据分析包括:

S1:从SDH输入数据里提取单帧、复帧数据,对开销字节进行解析,得到复用结构、承载业务类型和净负荷数据;

S2:根据S1中的承载业务类型对C-4-Xc或C-4、C-3、C-2、C-12、C-11的净负荷数据和时隙TS数据进行质量检查。

优选地,传输层的数据分析具体包括:

步骤1:提取当前帧RSOH再生段开销的B1字节,同时将上一帧扰码后的STM-N帧所有字节进行XOR运算,得到上一帧BIP-N*8校验和为B1‘,检查B1与B1’是否一致;

步骤2:提取当前帧MSOH复用段开销的B2B2B2字节,同时将上一帧扰码后的STM-N帧所有字节N*3个字节一组进行XOR运算得到上一帧BIP-N*24校验和为B2‘B2‘B2’,检查B2B2B2与B2‘B2‘B2’是否一致;

步骤3:提取当前VC-4-Xc、VC-4和VC3帧的B3字节,同时将上一帧VC-4-Xc、VC-4和VC3的所有字节进行XOR运算得到上一帧BIP-N*8校验和为B3‘,检查B3与B3‘是否一致;

步骤4:VC-2、VC-12、VC-11均采用V5存储BIP-2校验和,提取当前帧的V5字节,包括b1b2,同时将上一帧所有字节的1、3、5、7比特进行XOR运算得到b1‘,2、4、6、8比特进行XOR运算得到b2’,检查b1b2与b1′b2′是否一致。

优选地,应用层数据分析中的S1具体包括:

根据AU-4指针的H1、H2信息得到VC-4-Xc的分组信息和级联数量,每个分组的级联数量X取值范围为4、16、64;

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