[发明专利]一种磁屏蔽检测仪

说明书

本发明公开了一种磁屏蔽检测仪，包括：屏蔽箱体、信号检测仪、信号发生器和发射天线，所述被测件和所述信号检测仪设于所述屏蔽箱体内，所述信号发生器设于所述屏蔽箱体外，所述发射天线贯穿被测件后通过同轴电缆连接所述信号发生器，所述信号检测仪用于获取所述发射天线发出的信号。本发明通过将发射天线设于被测件的内部，再用同轴电缆将发射天线与信号发生器连接，信号检测仪检测被测件内部的发射天线发出的电磁信号，从而直接检测被测件的磁屏蔽性能，由于磁屏蔽材料是没有方向性的，发射天线做得很微小，因而磁屏蔽检测仪既可以对小件元器件直接进行磁屏蔽性能检测，也能对大件元器件直接进行磁屏蔽性能检测。

技术领域

本发明涉及工业电磁检测领域，尤其涉及一种磁屏蔽检测仪。

背景技术

目前，电子器件越来越小型化，电子器件抗干扰性的运用也越来越多，但还没有一种设备能对小件进行磁屏蔽性能直接检测。由于小件电子器件的内部空间很小，无法放置各种传感器，因而无法对小件电子器件直接进行屏蔽效果检测。只能用对比测量或者间接测量法，测量其参数，然后通过计算得出，目前这种检测方法得到的磁屏蔽检测效果即不真实又不方便。

发明内容

本发明提供了一种磁屏蔽检测仪，用以解决目前小件电子器件无法直接进行磁屏蔽性能检测的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种磁屏蔽检测仪，包括：屏蔽箱体、信号检测仪、信号发生器和发射天线，所述被测件和所述信号检测仪设于所述屏蔽箱体内，所述信号发生器设于所述屏蔽箱体外，所述发射天线贯穿被测件后通过同轴电缆连接所述信号发生器，所述信号检测仪用于获取所述发射天线发出的信号。

进一步地，还包括支架，所述支架上设有限定所述被测件移动的限位装置，用于限制所述被测件移动。

进一步地，还包括发光装置和电池，所述发光装置贯穿并固定于所述屏蔽箱体的侧壁上，用于为所述屏蔽箱体内部照明，所述发光装置电连接所述电池。

进一步地，所述发光装置具体为若干个串联和/或并联的发光二极管。

进一步地，所述发光装置具体包括第一发光二极管、第二发光二极管、第三发光二极管和第四发光二极管，所述第一发光二极管的负极和所述第三发光二极管的负极连接所述电池的负极，所述第一发光二极管的正极连接所述第二发光二极管的负极，所述第三发光二极管的正极连接所述第四发光二极管的负极，所述第二发光二极管的正极和所述第四发光二极管的正极连接所述电池的正极。

进一步地，所述被测件包括可分离的上壳体和下壳体，所述下壳体上设有过线小孔，所述发射天线的连接端穿过所述被测件的过线小孔，与所述同轴电缆连接。

进一步地，还包括摄像头，所述摄像头贯穿并固定于所述屏蔽箱体的侧壁。

本发明具有以下有益效果：

本发明的一种磁屏蔽检测仪，将被测件、发射天线和信号检测仪设于屏蔽箱体的内部，信号发生器设于屏蔽箱体的外部，可以避免外部电磁的干扰，通过将发射天线设于被测件的内部，再用同轴电缆将发射天线与信号发生器连接，信号检测仪检测被测件内部的发射天线发出的电磁信号，从而直接检测被测件的磁屏蔽性能，由于磁屏蔽材料是没有方向性的，发射天线做得很微小，因而磁屏蔽检测仪既可以对小件元器件直接进行磁屏蔽性能检测，也能对大件元器件直接进行磁屏蔽性能检测。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本发明还有其它的目的、特征和优点。下面将参照附图，对本发明作进一步详细的说明。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明的一种磁屏蔽检测仪的结构示意图。

图2是本发明的一种磁屏蔽检测仪的支架的中轴剖视图。