[发明专利]一种BMS模拟前端采集芯片性能测试装置及方法

说明书

本发明提出一种BMS模拟前端采集芯片性能测试装置及方法，该装置包括测试开发组件、电池模拟组件及温度测试组件，测试开发组件用于安装模拟前端采集芯片，电池模拟组件与测试开发组件连通，由电池模拟组件向测试开发组件供电，并由测试开发组件中的模拟前端采集芯片对电池模拟组件进行电压数据采集及状态控制，温度测试组件与电池模拟组件及测试开发组件连通，由温度测试组件对电池模拟组件的环境温度进行测试，并将温度数据传输至测试开发组件中的模拟前端采集芯片；还包括单片机最小系统，单片机最小系统通过串行外设接口与测试开发组件连通，并与上位机连通，由单片机最小系统将电压数据及温度数据传输至上位机。

技术领域

本发明涉及，尤其涉及一种BMS模拟前端采集芯片性能测试装置及方法。

背景技术

新能源的热度持续上升，市场对于储能产品的需求量在不断增长，BMS的性能需要不断提升，ADC(Analog to Digital Converter，模数转换器)作为BMS(BatteryManagement System，电池管理系统)中主要的组成部分，模拟前端芯片作为外界微弱的模拟电信号与模数转换器的桥梁，具有十分重要的地位，需要对其进行大量的测试，以确保采集数据的时效性和准确性，对于提升BMS的功能性是至关重要的。常用的测试装置使用不便，有必要对其进行结构优化。

发明内容

本发明的目的是提供一种BMS模拟前端采集芯片性能测试装置及方法，以便于对模数转换器模拟前端采集芯片进行测试。

本发明为解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种BMS模拟前端采集芯片性能测试装置，包括：

测试开发组件，该测试开发组件用于安装模拟前端采集芯片；

电池模拟组件，该电池模拟组件与测试开发组件连通，由电池模拟组件向测试开发组件供电，并由测试开发组件中的模拟前端采集芯片对电池模拟组件进行电压数据采集及状态控制；

温度测试组件，该温度测试组件与电池模拟组件及测试开发组件连通，由温度测试组件对电池模拟组件的环境温度进行测试，并将温度数据传输至测试开发组件中的模拟前端采集芯片；

还包括：

单片机最小系统，该单片机最小系统通过串行外设接口与测试开发组件连通，并与上位机连通，由单片机最小系统将电压数据及温度数据传输至上位机。

测试开发组件包括：

测试板，模拟前端采集芯片安装于测试板中。

电池模拟组件包括：

电池模拟板，该电池模拟板包括16节3.2V电池以及测试电路，每节电池的正负两端作为采集点分别接入采样线，并与测试开发组件中的模拟前端采集芯片连接，由模拟前端采集芯片对各采集点的电压数据进行采集。

温度测试组件包括：

温度测试板，该温度测试板包括热敏电阻及波段开关，热敏电阻连接于电池模拟板中，通过波段快关选择不同档位而接入不同阻值的热敏电阻。

一种BMS模拟前端采集芯片性能测试方法，包括：

通过电池模拟板向测试板提供电源，同时作为测试板中模拟前端采集芯片的电压检测对象，由模拟前端采集芯片对电池模拟板进行电压数据采集及状态控制；

通过温度测试板对电池模拟板的温度进行测试，并通过波段快关选择不同档位而接入不同阻值的热敏电阻，由温度-电阻对应表通过查找法得到对应的温度值。

热敏电阻的材料系数B为3950，波段开关每转动一下的增加的电阻阻值为2。

第一节电池的负端作为电压采集的参考点，其余采集点在各级电池的正极。