[发明专利]一种A型架背板平面度检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 202111276653.9 申请日: 2021-10-29
公开(公告)号: CN114136191A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 干丛龙;李青;李赫然;石志强;李震;郭标富;陈德青;廉涛 申请(专利权)人: 芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭科技集团有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 刘小峰;李红萧
地址: 241060 安徽省芜湖*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 背板 平面 检测 装置 方法
【说明书】:

发明提供一种A型架背板平面度检测装置,包括:基准件,所述基准件包括上基准面、与所述上基准面平行的下基准面、以及贯穿所述上基准面和所述下基准面的通槽,所述下基准面用于与待测A型架背板平面贴合;测量件,所述测量件包括测量件本体和连接至所述测量件本体的测量头,所述测量头穿过所述通槽并且抵接所述待测A型架背板平面;以及连接件,所述测量件通过所述连接件沿所述基准件的长度方向可滑动地连接在所述上基准面上。本发明的A型架背板平面度检测装置操作简单、快捷,测量方法易实施并且测量结果更加准确。

技术领域

本发明涉及机械测量技术领域,更具体地,涉及一种A型架背板平面度检测装置,以及涉及一种检测A型架背板平面度的方法。

背景技术

A型架为基板玻璃包装的载体,A型架的相关尺寸直接关系着基板玻璃的包装质量及后续的投入使用,由于基板玻璃厚度较薄,单架包装数量较多,当背板平面度出现较大偏差时,基板玻璃易出现碎片,目前的测量方法主要依靠铝方管靠尺及塞尺检测,测量误差较大,易造成不合格A型架漏检,导致生产损失。

因此,急需一种A型架背板平面度检测装置和检测方法,以解决现有技术中的技术缺陷。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种A型架背板平面度检测装置,以及一种检测A型架背板平面度的方法。

为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

本发明提供一种A型架背板平面度检测装置,包括:

基准件,所述基准件包括上基准面、与所述上基准面平行的下基准面、以及贯穿所述上基准面和所述下基准面的通槽,所述下基准面用于与待测A型架背板平面贴合;

测量件,所述测量件包括测量件本体和连接至所述测量件本体的测量头,所述测量头穿过所述通槽并且抵接所述待测A型架背板平面;以及

连接件,所述测量件通过所述连接件沿所述基准件的长度方向可滑动地连接在所述上基准面上。

进一步地,所述基准件在其长度方向上的两个侧面上分别设置有滑槽,所述连接件与所述滑槽滑动连接。

进一步地,所述连接件包括:

滑动块,所述滑动块包括水平部和沿所述水平部的两端分别向下延伸的竖直部,所述水平部位于所述上基准面上,所述竖直部的自由端具有与所述滑槽配合的突出部;以及

安装板,所述安装板设置在所述水平部上并且沿远离所述水平部的方向延伸,所述安装板上设置有竖直导轨和能够在所述竖直导轨中上下滑动的滑块。

进一步地,所述测量件与所述滑块连接。

进一步地,所述滑动块的所述水平部上设置有可使所述测量头穿过的通孔。

进一步地,所述竖直导轨上设置有可将所述测量件固定在所述竖直导轨上的紧固件。

进一步地,所述紧固件为紧固螺栓。

进一步地,所述基准件为靠尺。

进一步地,所述测量件为千分表。

本发明还提供一种利用以上所述的A型架背板平面度检测装置检测待测A型架背板平面的平面度的方法,所述方法包括以下步骤:

步骤1,根据待测A型架背板平面的公差标准,确定测量头伸出下基准面的预定伸出量,其中,所述预定伸出量大于待测A型架背板平面的公差标准;

步骤2,旋动紧固件紧固测量件,采用标准平面将测量头压缩至与下基准面齐平,使测量件归零;

步骤3,将基准件的下基准面紧贴在待测A型架背板平面上;

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