[发明专利]孔缺陷检测设备和方法

权利要求书

1.一种孔缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获知待检孔的位置并将检测端(35)伸入待检孔内；其中，以所述检测端(35)置于所述待检孔内的初始位置为起点；

将所述检测端(35)绕所述待检孔的轴线转动以获取所述待检孔第一层的周向图像，而后将所述检测端(35)沿所述待检孔的轴向向孔口处移动第一距离并再次转动以获取所述待检孔第二层的周向图像，重复上述操作，直至所述检测端(35)移动至所述待检孔的孔口边缘，即可获取整个待检孔的孔壁图像；

对整个所述待检孔的孔壁图像进行识别分析即可判断出待检孔的缺陷区域。

2.根据权利要求1所述的孔缺陷检测方法，其特征在于，在获取整个所述待检孔的孔壁图像时，所述孔缺陷检测方法还包括以下步骤：

以所述检测端(35)伸入所述待检孔的最深位置处为所述初始位置，并获知此时所述待检孔的深度H；

以所述检测端(35)单次获得的所述待检孔的周向图像沿所述待检孔的轴向宽度为L，确定出所述检测端(35)分层获取所述待检孔的周向图像层数为H/L；

其中，第一距离的数值与宽度L相同。

3.根据权利要求2所述的孔缺陷检测方法，其特征在于，在获取整个所述待检孔的孔壁图像时，还包括以下步骤：

以所述检测端(35)单次获取所述待检孔的图像沿所述待检孔的周向长度所对应的圆心角为A，确定出所述检测端(35)每层获取图像的次数为360°/A；

将每一层获取的多个所述图像拼接成所述待检孔的单层周向图像。

4.根据权利要求3所述的孔缺陷检测方法，其特征在于，在对整个待检孔的图像进行识别分析时，还包括以下步骤：

将所述待检孔的所有单层周向图像沿所述待检孔的轴向拼接成所述待检孔的整个孔壁图像；

根据所述整个孔壁图像识别出所述待检孔的缺陷区域；

将所述缺陷区域对应的数据与预设的缺陷数值阈值进行对比，以判断是否存有缺陷以及判断缺陷的类型。

5.根据权利要求1所述的孔缺陷检测方法，其特征在于，在获知孔的位置包括以下步骤：

在获知所述待检孔的位置时，以所述待检孔的边缘处与所述待检孔的孔心的连线互相垂直的两个点分别为第一位置和第二位置，以所述第一位置为所述检测端(35)优先靠近的位置；

优先获取所述第一位置的信息，待所述第二位置的信息被获取时，即可获取到所述待检孔的位置。

6.一种孔缺陷检测设备，其特征在于，所述孔缺陷检测设备包括：

行走组件(10)，所述行走组件(10)能够相对检测工件移动；

检测组件(30)，安装于所述行走组件(10)；所述检测组件(30)包括检测端(35)，所述检测端(35)能够沿第一方向往复移动，且所述检测端(35)能够绕自身轴线转动；

其中，所述第一方向为检测工件上待检孔的轴线方向。

7.根据权利要求6所述的孔缺陷检测设备，其特征在于，所述检测组件(30)包括升降机构(31)，所述检测端(35)连接于所述升降机构(31)，所述升降机构(31)能够驱动所述检测端(35)沿第一方向往复运动。

8.根据权利要求7所述的孔缺陷检测设备，其特征在于，所述检测组件(30)还包括第三安装架(33)和旋转驱动件(32)；

所述第三安装架(33)连接于所述升降机构(31)，所述检测端(35)转动连接于所述第三安装架(33)；所述旋转驱动件(32)的动力端穿过所述第三安装架(33)并与所述检测端(35)连接，用于驱动所述检测端(35)绕自身轴线转动。

9.根据权利要求8所述的孔缺陷检测设备，其特征在于，所述第三安装架(33)朝向所述检测端(35)的一侧凸设有定位筒(34)，所述定位筒(34)套设于所述检测端(35)的外侧，且所述定位筒(34)的轴向长度相比所述检测端(35)的轴向长度占比为10％～20％。

10.根据权利要求6所述的孔缺陷检测设备，其特征在于，所述行走组件(10)还包括安装底板(110)，所述安装底板(110)构造有定位孔(117)，所述检测端(35)能够穿过所述定位孔(117)伸入待检孔内；所述定位孔(117)的边缘设置有多个沿所述定位孔(117)的周向间隔布置的定位器。