[发明专利]检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种检测系统，其特征在于，包括：检验电路板；

所述检验电路板包括：控制器，与待检测电路板连接，被配置为：

在接收到参数选择指令时，从预先存储的多个不同种类的检测配置参数中，确定当前连接的待检测电路板对应的检测配置参数；

根据确定出的所述检测配置参数，对当前连接的所述待检测电路板进行参数配置；

在所述参数配置完成后，向当前连接的所述待检测电路板输入显示数据和驱动控制信号。

2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述控制器包括：处理器、数据输出电路；其中，所述处理器与所述数据输出电路连接，所述处理器和所述数据输出电路分别与所述待检测电路板连接；

所述处理器被配置为在接收到所述参数选择指令时，从预先存储的多个不同种类的检测配置参数中，确定当前连接的所述待检测电路板对应的检测配置参数；根据确定出的所述检测配置参数，对当前连接的所述待检测电路板进行参数配置，并在所述参数配置后，向所述待检测电路板输入所述驱动控制信号以及对所述数据输出电路输入数据输出控制信号；

所述数据输出电路被配置为在接收到所述数据输出控制信号时，与当前连接的所述待检测电路板进行握手，并在握手完成后向当前连接的所述待检测电路板输入所述显示数据。

3.如权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述待检测电路板具有显示控制芯片；同一类型显示控制芯片对应同一种检测配置参数；

所述处理器进一步被配置为：预先存储了多个不同类型的显示控制芯片一一对应的检测配置参数；在接收到所述参数选择指令时，确定所述数据输出电路具有的显示控制芯片的类型；根据确定出的所述显示控制芯片的类型，从预先存储的检测配置参数中，选取当前连接的所述待检测电路板中具有的显示控制芯片对应的检测配置参数；根据确定出的所述检测配置参数，对当前连接的所述待检测电路板中具有的显示控制芯片进行参数配置。

4.如权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述处理器还被配置为：

在选取当前连接的所述待检测电路板中具有的显示控制芯片对应的检测配置参数之后，控制所述检测系统关机重启；并在重启后，根据确定出的所述检测配置参数，对当前连接的所述待检测电路板中具有的显示控制芯片进行参数配置；

或者，在选取当前连接的所述待检测电路板中具有的显示控制芯片对应的检测配置参数之后，控制所述检测系统持续开启，并根据确定出的所述检测配置参数，对当前连接的所述待检测电路板中具有的显示控制芯片进行参数配置。

5.如权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述控制器还包括：电压控制电路；所述电压控制电路分别与所述处理器和所述待检测电路板连接；

所述处理器还被配置为：在所述检测系统开启并在接收到所述检测启动指令前，接收电路板上电指令，并在所述电路板上电指令的控制下，向所述电压控制电路输入上电控制信号；

所述电压控制电路被配置为在接收到所述上电控制信号时，向当前连接的待检测电路板输出检测电压。

6.如权利要求5所述的检测系统，其特征在于，所述电压控制电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一开关、第二开关以及第一二极管；

所述第一电阻的第一端与接地端连接，所述第一电阻的第二端分别与控制信号接收端以及所述第二电阻的第一端连接；

所述第二电阻的第二端与所述第一开关的控制端连接，所述第一开关的第一端与所述接地端连接，所述第二开关的第二端与所述第三电阻的第一端连接；

所述第三电阻的第二端分别与所述第四电阻的第一端以及所述第五电阻的第一端连接；

所述第四电阻的第二端与分别与所述第一二极管的负极以及所述第二开关的控制端连接；

所述第一二极管的正极与所述第五电阻的第一端连接；

所述第五电阻的第二端与所述第六电阻的第二端以及所述第二开关的第一端连接；

所述第六电阻的第一端与检测电压输入端连接；

所述第二开关的第二端与检测电压输出端连接，所述检测电压输出端被配置为与当前连接的待检测电路板连接，以向当前连接的待检测电路板输出检测电压。