[发明专利]一种铁电隧道结器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111258023.9 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN113991015A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 许晓欣;余杰;高兆猛;孙文绚;张握瑜;李熠;尚大山 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;G06N3/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 柳虹
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 隧道 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种铁电隧道结器件,其特征在于,包括:

第一电极;

介质层,所述介质层位于所述第一电极的一侧表面;

铁电层,所述铁电层位于所述介质层远离所述第一电极的一侧表面,所述铁电层的厚度小于5纳米;

第二电极,所述第二电极位于所述铁电层远离所述第一电极的一侧表面。

2.根据权利要求1所述的铁电隧道结器件,其特征在于,所述铁电层的厚度为2-5纳米,所述介质层的厚度为1-4纳米。

3.根据权利要求1所述的铁电隧道结器件,其特征在于,所述介质层的材料为氧化物。

4.根据权利要求3所述的铁电隧道结器件,其特征在于,所述介质层的材料为氧化硅。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的铁电隧道结器件,其特征在于,所述第一电极的材料为N型掺杂或P型掺杂的硅,所述第二电极的材料为金属材料。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的铁电隧道结器件,其特征在于,所述铁电层的材料为掺杂的HfO2

7.根据权利要求6所述的铁电隧道结器件,其特征在于,所述铁电层的材料为HZO。

8.一种铁电隧道结器件的制造方法,其特征在于,包括:

在第一电极上形成介质层;

在所述介质层上形成铁电层;

在所述铁电层上形成第二电极;

进行退火处理。

9.根据权利要求8所述的制造方法,其特征在于,所述介质层材料为氧化硅,所述第一电极的材料为N型掺杂的硅,则在第一电极上形成介质层包括:

利用氧化工艺氧化部分所述第一电极,以形成所述介质层。

10.一种储备池计算网络系统,其特征在于,包括权利要求1-7任意一项所述的铁电隧道结器件。

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