[发明专利]电子设备的故障检验方法在审

专利信息
申请号: 202111256482.3 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN113986593A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 谢建东;吴斌炜;王凯 申请(专利权)人: 北京优刻得科技有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 崔巍
地址: 100044 北京市西城*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 故障 检验 方法
【权利要求书】:

1.一种电子设备的故障检验方法,其特征在于,所述方法包括:

在所述电子设备重启的情况下,加载AOF文件的每一条记录以获得第二校验字段,所述每一条记录包含第一校验字段;

在第二校验字段和第一校验字段不一致的情况下,报告故障;

其中,所述第一校验字段是代表所述AOF文件的每一条记录中记载的针对所述电子设备的操作请求的留存数量字段,所述第二校验字段是代表根据针对所述电子设备的操作请求计算得到的数量字段。

2.根据权利要求1所述的电子设备的故障校验方法,其特征在于,所述操作请求包括以下的一种或多种:ADD请求、DEL请求和MOD请求。

3.根据权利要求1或2所述的电子设备的故障校验方法,其特征在于,所述第一校验字段为所述AOF文件的每一条记录中记载的针对所述电子设备的操作请求的留存的key的个数,所述第二校验字段为根据针对所述电子设备的操作请求计算得到的内存中的key的个数。

4.根据权利要求1或2所述的电子设备的故障校验方法,其特征在于,所述第一校验字段为所述AOF文件的每一条记录中记载的针对所述电子设备的操作请求的value累加值,所述第二校验字段为根据针对所述电子设备的操作请求计算得到的内存中的value累加值。

5.根据权利要求1或2所述的电子设备的故障校验方法,其特征在于,所述第一校验字段为所述AOF文件的每一条记录中记载的针对所述电子设备的操作请求的value的crc函数值,所述第二校验字段为根据针对所述电子设备的操作请求计算得到的内存中的value的crc函数值。

6.一种用于检验电子设备故障的系统,其特征在于,所述系统包括:

写入模块,用于在所述AOF文件的每一条记录中添加第一校验字段,所述第一校验字段是代表在所述AOF文件的每一条记录中记载的针对所述电子设备的操作请求的留存数量字段;

重启模块,用于在所述电子设备重启的情况下,加载AOF文件的每一条记录,获得第二校验字段,所述第二校验字段是代表根据针对所述电子设备的操作请求计算得到的数量字段;

校验模块,在所述第一校验字段和所述第二校验字段不一致的情况下,报告故障。

7.一种电子设备,其特征在于,所述设备包括存储有计算机可执行指令的存储器和处理器;当所述指令被所述处理器执行时,使得所述设备实施根据权利要求1至5中任一项所述的电子设备的故障检验方法。

8.一种计算机可读介质,其特征在于,所述存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现权利要求1至5任一项所述的电子设备的故障检验方法。

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