[发明专利]结晶器振动装置振动性能退化数据构建方法有效

专利信息
申请号: 202111249126.9 申请日: 2021-10-26
公开(公告)号: CN113870458B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 刘瀚立;龙灏;何小莉;蔡春扬 申请(专利权)人: 中冶赛迪工程技术股份有限公司;中冶赛迪技术研究中心有限公司
主分类号: G07C3/00 分类号: G07C3/00;G06F16/901;G06F18/22;G06Q10/04;G06Q10/20;G06Q50/04;B22D11/16;B22D11/051;G06F123/02
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 胡博文
地址: 400013*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 结晶器 振动 装置 性能 退化 数据 构建 方法
【权利要求书】:

1.一种结晶器振动装置振动性能退化数据构建方法,其特征在于:包括以下步骤:

S1.以每隔设定时长采集结晶器振动装置的振动性能参数并记录振动性能参数的采集时刻,其中,振动性能参数包括偏摆和振频;

S2.将每一次所采集的振动性能参数表示为按采集时刻先后顺序排列的参数序列,并筛选出参数序列中的有效的偏摆数据作为振动退化数据;

S3.对各振动退化数据的起始时刻点进行统一,得到最终的振动性能退化数据集;

步骤S3中,具体包括:

S31.设定时间窗口C;并将振动退化数据按照采集时刻进行排序形成振动退化数据序列P1,P2,…,Pn;

S32.对振动退化数据P1,以时间窗口C进行从振动退化数据P1的初始起点时刻所对应的数据进行框选得到子序列S1,并记录子序列的S1的初始采集时刻T1;

S32.让时间窗口C在其它振动退化数据P2,…,Pn上滑动,分别得到子序列S21,S22,…,Si1,Si2,…Sik,…,Sn1,Sn2,…;n表示振动退化数据的个数,i表示第i条振动退化数据,Sik表示第i条振动退化数据的第k个子序列;

S33.计算子序列S1与其它任一子序列的相似距离,并筛选出相似距离的最小值,并将振动退化数据序列P1的所有采集时刻均加上Tik-T1,其中,Tik表示与子序列S1相似距离最小的子序列的初始时刻;

S34.以步骤S32至步骤S34的方法分别对P2,…,Pn的初始时刻进行统一,其中,在重复步骤S32时,按照修改采集时刻后的振动退化数据序列进行时间窗口滑动,且当振动退化数据序列Pm的所有采集时刻加上Tik-Tm1时,则前次计算时与振动退化数据序列Pm中的某一子序列相似距离最小的振动退化数据序列Pr的所有采集时刻均加上Tik-Tm1,其中,Tm1为振动退化数据序列Pm的初始采集时刻,m表示第m个振动退化数据序列。

2.根据权利要求1所述结晶器振动装置振动性能退化数据构建方法,其特征在于:步骤S2中根据如下方法筛选出参数序列中的有效数据:

S21.判断参数序列中相邻两参数的采集时刻差值是否等于设定时长,如是,则将参数序列中相邻两参数的采集时刻差值等于设定时长的偏摆参数作为候选参数序列;

S22.将候选参数序列中的振频参数作为目标参数,并判断振频是否大于设定阈值,如是,则将候选参数序列作为振动退化数据。

3.根据权利要求1所述结晶器振动装置振动性能退化数据构建方法,其特征在于:步骤S32中实践窗口C在振动退化数据Pi停止滑动的判决条件如下:

设定直线x=at+b,基于直线x=at+b采用线性拟合算法对子序列S1进行拟合得到子序列S1的拟合直线,并确定子序列S1的拟合直线的中点值M1;

当时间窗口C在振动退化数据Pi上滑动得到任一子序列Sim时,基于直线x=at+b采用线性拟合算法对子序列Sim进行拟合得到子序列Sim的拟合直线,并确定子序列Sim的拟合直线的中点值Mim

当(Mim-M1)/M1>1时,则时间窗口C在振动退化数据Pi上停止滑动。

4.根据权利要求3所述结晶器振动装置振动性能退化数据构建方法,其特征在于:设定直线x=at+b的系数a和b通过如下方法确定:

设定观测数据(tj,xj),其中j=1,2,…,n-1;

确定系数a和b:

其中:其中,xj表示第j个偏摆数据,tj表示第j个时刻点。

5.根据权利要求1所述结晶器振动装置振动性能退化数据构建方法,其特征在于:步骤S33中,通过DWT算法计算子序列之间的相似距离。

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