[发明专利]用于密封片的测量装置及方法

权利要求书

1.用于密封片的测量装置，所述密封片上有一个孔和两个斜面，孔中心到两个斜面的垂直距离大于零，且两个斜面位于孔的两侧并关于孔对称分布，其特征在于：测量装置包括，

量规体(1)，所述量规体(1)的上端面有一条判断用平面，判断用平面上开有一个圆孔，量规体(1)的侧端面上开有一个通孔，且通孔与圆孔垂直相交；

测量头(3)，两个所述测量头(3)设置在量规体(1)上，且分居在圆孔两侧，两个测量头(3)的测量端连线平行于量规体(1)上端圆孔所在的判断用平面，且测量端到判断用平面的距离等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离的最小值加上一个延长距离D，D大于零；

量杆(2)，所述量杆(2)长度方向上的一个端面上设置有高测量面和低测量面两个平行平面，另一个端面为接触用端面，接触用端面平行于低测量面，高测量面和低测量面之间的高度差等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离所允许的最大误差值，低测量面到接触用端面的距离等于延长距离D与密封片上孔的半径之差；

插销(5)，所述插销(5)表面包括一个外径匹配密封片上孔内径的圆柱面，圆柱面外径与量规体(1)上通孔的竖向孔径之差大于等于高测量面和低测量面之间的高度差，所述竖向孔径为平行于量规体(1)上圆孔轴线方向的通孔最小孔径，插销的长度长于通孔的深度。

2.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：所述量规体(1)呈门形，且在门形量规体(1)的上端面有一个凸台，凸台的上端面为判断用平面，判断用平面上开有圆孔，两个测量头(3)分别位于门形量规体(1)的左、右两端，凸台位于门形量规体(1)左、右两端连线的中点位置。

3.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：还包括，

螺孔，所述螺孔位于量规体(1)的侧端面，螺孔与圆孔相交；

空刀槽，所述空刀槽位于量杆(2)的侧表面；

螺钉(4)，所述螺钉(4)与螺孔螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：

所述密封片上有两个耳片，所述孔同时贯穿两个耳片，两个耳片之间的间隔形成槽口；

所述量规体(1)的厚度尺寸B小于等于密封片上槽口的宽度尺寸。

5.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：所述高测量面和低测量面之间有一条凹槽。

6.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：所述测量头(3)与量规体(1)可拆卸连接。

7.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：所述插销(5)还包括与圆柱面同轴的握持段，握持段表面有防滑花纹。

8.用于密封片的测量方法，其特征在于：采用权利要求1中所述的测量装置，且包括以下步骤，

步骤一，将量规体(1)上的通孔对准密封片上的孔，然后将插销(5)穿过通孔并使得插销(5)上的圆柱面与密封片上的孔装配；

步骤二，将量杆(2)上接触用端面的一端插入量规体(1)判断用平面上的圆孔中，确保量杆(2)插入圆孔内的接触用端面与插销(5)上的圆柱面接触；

步骤三，移动量规体(1)，确保量规体(1)上的测量头(3)与密封片上两个对称斜面上距离为L的待测量的特定点接触；

步骤四，比较量规体(1)上判断用平面与量杆(2)上高测量面和低测量面的位置关系，如果圆孔所在平面介于高测量面和低测量面之间，或者与高测量面或低测量面齐平，则密封片上的孔中心到两个对称斜面上特定点的距离合格，否则不合格。