[发明专利]一种膜片质量检测装置及其方法

权利要求书

1.一种膜片质量检测装置，其特征在于：包括机架(10)、安装在机架(10)上的工作板(1)以及安装在机架(10)上用于测量放置在工作板(1)上的物体厚度的测厚仪，所述测厚仪包括光线发射装置(2)、光线感应装置(3)以及数据处理系统，所述光线发射装置(2)设置在机架(10)一侧且可发射出多束处于同一平面、不同角度且不同强度的光线，所述光线感应装置(3)设置在机架(10)与工作板(1)相对应的位置且用于感应反射光束的落点位置及光线强度，并发送信号至数据处理系统，所述数据处理系统用于根据所述的反射光束的落点位置及光线强度，结合对应的光线发射位置、角度以及工作板(1)与测厚仪之间的距离，获得膜片在每个取样点的取样点厚度或膜片的整体平均厚度X，进而判断膜片质量是否合格。

2.根据权利要求1所述的膜片质量检测装置，其特征在于：所述工作板(1)滑动设置在机架(10)上，所述机架(10)处于工作板(1)两对面侧位置均转动安装有多个齿轮(101)，所述齿轮(101)的转动中心线垂直于工作板(1)表面，所述齿轮(101)的转动中心线垂直于工作板(1)，所述工作板(1)两侧均设置有与齿轮(101)相啮合的齿条(102)，所述齿轮(101)两侧设置有用于限制工作板(1)沿齿轮(101)转动中心线方向滑动的限位板(103)，所述机架(10)上安装有用于带动齿轮(101)转动的移动驱动件(104)。

3.根据权利要求1所述的膜片质量检测装置，其特征在于：所述机架(10)上竖直滑动安装有调节板(110)，所述测厚仪安装在调节板(110)上，所述机架(10)上安装有升降驱动件(111)，所述升降驱动件输出端安装有凸轮(112)并带动凸轮(112)旋转运动，所述凸轮(112)外侧设置有若干半径不同的凸部，所述调节板(110)与机架(10)之间安装有使调节板(110)保持与凸轮(112)外侧相抵压的弹性件(113)。

4.一种采用权利要求1所述的膜片质量检测装置检测膜片质量的检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取工作板(1)与测厚仪之间的垂直距离作为第一距离；

将膜片置于工作板(1)上表面；测量同时发射的多束光线经膜片的上表面反射回来光束感应器的落点位置与光线发射装置(2)发射点之间的多个第二距离；

沿着与多束光线所在平面垂直的方向移动膜片，并测量在不同的移动位置对应获得的多个第二距离；根据所述的第一距离以及第二距离，获得膜片在每个取样点的取样点厚度；其中，所述的取样点为光线照射在膜片上的位置点；

根据各个取样点的厚度获取膜片的整体平均厚度，当整体平均厚度或取样点厚度与对应标准值之间的差大于误差值时，则判断膜片质量不合格。

5.根据权利要求4所述的采用权利要求1所述的膜片质量检测装置检测膜片质量的检测方法，其特征在于：具体通过以下公式计算获得整体平均厚度：

其中，

其中，L代表第一距离；

θ代表对应光线与竖直线所成的锐角；N代表第二距离；

i代表膜片沿着与多束光线所在平面垂直的方向移动的位置；

k代表膜片固定在某一位置时，光线照射在膜片上的位置点；

Xi-k表示第i排第k个位置取样点下膜片的厚度；

n表示膜片沿着与多束光线所在平面垂直的方向移动的位置个数；

m表示膜片固定在某一位置时光线照射在膜片上的位置点的个数。

6.根据权利要求4所述的采用权利要求1所述的膜片质量检测装置检测膜片质量的检测方法，其特征在于：该方法还包括在膜片同一取样点获取至少两组不同第一距离下的多个第二距离，计算得出多组取样点厚度，获取膜片取样点的平均取样点厚度，根据平均取样点厚度获得膜片的整体平均厚度。