[发明专利]样品材料参数确定方法及装置

权利要求书

1.一种样品材料参数确定方法，其特征在于，包括：

获取长度相等的样品时域波形和参考时域波形；

生成与所述样品时域波形对应的第一汉宁窗，以及生成与所述参考时域波形对应的第二汉宁窗；所述第一汉宁窗的窗口函数长度与所述样品时域波形的长度相等；所述第二汉宁窗的窗口函数长度与所述参考时域波形的长度相等；

利用所述第一汉宁窗对所述样品时域波形进行处理，得到处理后的样品有效时域波形；利用所述第二汉宁窗对所述参考时域波形进行处理，得到处理后的参考有效时域波形；

根据所述样品有效时域波形和所述参考有效时域波形，确定样品材料参数；

所述生成与所述样品时域波形对应的第一汉宁窗，包括：

确定所述样品时域波形中主脉冲峰与干扰回波的目标距离；

根据所述目标距离与设定距离阈值的关系，确定所述第一汉宁窗的尾部边缘位置与所述干扰回波的位置关系；

根据所述位置关系配置所述第一汉宁窗中的参数，生成极大值所对应的时域位置与所述样品时域波形的极大值所对应的时域位置相同的所述第一汉宁窗；

所述生成与所述参考时域波形对应的第二汉宁窗，包括：

配置所述第二汉宁窗中的参数，生成极大值所对应的时域位置与所述参考时域波形的极大值所对应的时域位置相同的所述第二汉宁窗。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标距离与设定距离阈值的关系，确定所述第一汉宁窗的尾部边缘位置与所述干扰回波的位置关系，包括：

若所述目标距离大于所述设定距离阈值，则确定所述第一汉宁窗的尾部边缘位置位于所述干扰回波的首部位置之前；

若所述目标距离不大于所述设定距离阈值，则确定所述第一汉宁窗的尾部边缘位置位于所述干扰回波所处位置处。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成极大值所对应的时域位置与所述样品时域波形的极大值所对应的时域位置相同的所述第一汉宁窗，包括：

根据所述位置关系配置所述第一汉宁窗中的参数，生成初始的第一汉宁窗；

判断该初始的第一汉宁窗的边缘位置与所述样品时域波形的边缘位置是否重合，若不重合，则对该初始的第一汉宁窗的边缘位置进行数值补充操作，使得数值补充操作后的第一汉宁窗的边缘位置与所述样品时域波形的边缘位置重合。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一汉宁窗的尾部边缘位置位于所述干扰回波所处位置处，包括：确定所述第一汉宁窗的尾部边缘位置位于所述干扰回波的中心位置处。

5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于，

所述利用所述第一汉宁窗对所述样品时域波形进行处理，得到处理后的样品有效时域波形，包括：将所述第一汉宁窗与所述样品时域波形相乘，得到所述样品有效时域波形；

所述利用所述第二汉宁窗对所述参考时域波形进行处理，得到处理后的参考有效时域波形，包括：将所述第二汉宁窗与所述参考时域波形相乘，得到所述参考有效时域波形。