[发明专利]LET值仿真方法及装置

权利要求书

1.一种LET值仿真方法，其特征在于，包括：

建立器件模型，所述器件模型包含灵敏体积区域；

建立粒子输运模型；

设置粒子源、及所述粒子源中粒子入射LET值，向所述器件模型发射N个粒子；

计算所述N个粒子在器件模型灵敏体积区域的沉积能量ΔE、径迹长度Δl，及在灵敏体积区域的有效LET值L_eff，所述L_eff计算公式为其中ρ为灵敏体积区域材料的密度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

获取所述器件模型灵敏体积区域的临界能量；

统计单粒子翻转事件总数N_SEU，其中一个所述粒子导致所述沉积能量大于临界能量时，记为一次单粒子翻转事件；

计算单粒子翻转截面σ，其中A为粒子垂直入射范围内的器件模型表面积。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

设置所述粒子源中粒子入射LET值为L₁…L_K，其中K＞1；

计算单粒子翻转截面σ₁…σ_K，及在所述灵敏体积区域的有效LET值L_eff1…L_effK；

设置曲线拟合模型，将L_eff1…L_effK与σ₁…σ_K的映射进行曲线拟合，获取所述器件模型的单粒子翻转的饱和截面σ_sat和LET阈值，其中σ_sat为所述粒子有效LET值趋近于无穷大时单粒子翻转截面的渐进值或饱和值，所述LET阈值为发生单粒子翻转所需的最小有效LET值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述曲线拟合模型为Weibull函数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立器件模型的步骤包括：

根据所述器件的几何结构纵切图构建器件模型；或

对所述器件进行切割，确定所述器件材料，利用扫描电子显微镜确定所述材料几何形状及尺寸，构建器件模型。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述粒子输运模型包括：

粒子与所述器件模型灵敏体积区域原子核内部反应，及粒子留在或逃逸出所述灵敏体积区域的过程。

7.一种LET值仿真装置，其特征在于，包括：

模型构建模块，其用于建立器件模型及粒子输运模型，所述器件模型包含灵敏体积区域；

计算模块，其用于设置粒子源、及所述粒子源中粒子入射LET值，向所述器件模型发射N个粒子；计算所述N个粒子在器件模型灵敏体积区域的沉积能量ΔE、径迹长度Δl，及在灵敏体积区域的有效LET值L_eff，所述L_eff计算公式为其中ρ为灵敏体积区域材料的密度。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述计算模块被进一步配置为：

获取所述器件模型灵敏体积区域的临界能量；

统计单粒子翻转事件总数N_SEU，其中一个所述粒子导致所述沉积能量大于临界能量时，记为一次单粒子翻转事件；

计算单粒子翻转截面σ，其中A为粒子垂直入射范围内的器件模型表面积。