[发明专利]一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置及方法在审
| 申请号: | 202111231145.9 | 申请日: | 2021-10-22 |
| 公开(公告)号: | CN113848239A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
| 发明(设计)人: | 曾亮;蔡洋康;张楠 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
| 主分类号: | G01N27/20 | 分类号: | G01N27/20 |
| 代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贺建斌 |
| 地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 单片机 电阻 测量 损伤 成像 装置 方法 | ||
1.一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置,包括单片机(1),其特征在于:单片机(1)的通信接口与上位机(2)相连接,单片机(1)输出的IO端口与隔离电路(3)的输入端连接,隔离电路(3)的输出端利用导线与端子与待测结构(4)的输入连接,待测结构(4)的输出和节点电压检测电路(5)的输入连接,节点电压检测电路(5)的第一输出接地,节点电压检测电路(5)的第二输出和单片机(1)的ADC转换接口连接。
2.根据权利要求1所述的一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置,其特征在于:所述的单片机(1)为具备多路数字和模拟输入输出功能的单片机,包括STM32系列的单片机。
3.根据权利要求1所述的一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置,其特征在于:所述的隔离电路(3)由与单片机(1)输出的IO端口对应数量止逆二极管阵列组成。
4.根据权利要求1所述的一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置,其特征在于:所述的待测结构(4)为碳纤维增强复合材料结构件。
5.根据权利要求1所述的一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置,其特征在于:所述的节点电压检测电路(5)由串联精密电阻R0与电压测量节点组成。
6.利用一种基于单片机的电阻测量及损伤成像装置的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)通过单片机(1)内部检测程序控制其输出的IO端口切换以及输出高电平信号,高电平信号经过隔离电路(3)后输入到待测结构(4)中;
2)高电平信号通过损伤区域会反映损伤区域电阻的变化,然后由待测结构(4)的输出输入到节点电压检测电路(5),最后输入到单片机(1)的ADC转换接口,实现数据的储存和发送;
3)单片机(1)通过串口通信将接收到的电平信号发送到上位机(2),并通过数据处理实现损伤成像。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述的步骤1)具体为:通过配置单片机(1)的IO端口,将IO端口通过程序配置为输出模式,并将初始状态设置为低电平;在检测开始时,通过依次将IO端口的输出设置为高电平达到向外输出高电平,并在下一个IO端口输出高电平之前将上一个IO端口的状态重新设置为低电平,高电平信号从单片机(1)发出并直接进入隔离电路(3),高电平信号直接进入待测结构(4),待测结构(4)相当于一个被测电阻,而单片机(1)输出的高电平信号相当于电源,达到电阻的测量效果。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述的步骤2)具体为:高电平信号由隔离电路(3)输入到待测结构(4)中,再经过测点,最后经过已知精密电阻R0后接地,由此组成电阻测量电路;首先由输出口发出电压为U,在经过二极管后被分得导通电压为U1,最后经过电压测量节点测得的电压为U0,由此求得在待测结构(4)的待测电阻分得电压为(U-U1-U0);根据已知精密电阻电阻R0得到:
变换后得到待测结构4的电阻的计算式为:
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述的步骤3)具体为:由单片机(1)检测程序计算得到的电阻值数据将通过串口发送到上位机(2)中,通过数据的加密以及解码处理来保证数据的传输准确性;将数据帧头与帧尾添加在数据值的两端,再通过解码的形式去除数据帧头和帧尾提取中间的有效数据,最后通过数据重新排序形成输出矩阵,通过输出得到损伤成像结果;当损伤发生时,待测结构(4)相应位置的电阻值会发生明显变化,通过识别后将损伤位置确定,从而形成损伤定位图。
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