[发明专利]微流体分析设备

权利要求书

1.一种通过光学介导的电润湿(oEWOD)在微流体基片上同时操控数千个微滴的方法，所述方法包括：

快速地创建高度复杂的暂时电润湿位置的图案以便使用被紧密控制的电润湿力来精确地导控微滴；

其中所述暂时电润湿位置的图案包括多个相伴延伸的第一电润湿路径；

其中所述暂时电润湿位置的图案包括多个第三电润湿路径，所述第三电润湿路径与第一电润湿路径相交以产生至少一个微滴汇聚位置；

利用第二电磁辐射询检在所述位置上的微滴并且检测由每个微滴发射的任何荧光或拉曼散射。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个相伴延伸的第一电润湿路径是平行的。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第一电润湿路径和所述第三电润湿路径彼此成直角相交。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，还包括在所述微滴汇聚位置处合并微滴的步骤。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，使用一个或多个LED作为第二电磁辐射来执行询检所述微滴的步骤。

6.一种通过光学介导的电润湿(oEWOD)同时操控数千个微滴的设备，所述设备包括：

基片，所述基片包括第一介电层；

反射屏，所述反射屏被由LED发出的光照射，并配置成能够在第一介电层中快速地创建和破坏高度复杂的暂时电润湿位置的图案，从而使用被紧密控制的电润湿力使得微滴能够被精确地导控；

微处理器，所述微处理器被配置成操控作用点以便创建所述微滴沿其通过的路径，并还配置为使每个微滴的运动相对于彼此同步；以及

荧光或拉曼散射检测系统，所述荧光或拉曼散射检测系统包括第二电磁辐射和光电检测器，所述第二电磁辐射被配置为刺激来自微滴的荧光发射，所述光电检测器用于检测所述荧光发射。

7.根据权利要求6所述的设备，其中所述基片还包括第一复合壁和第二复合壁，所述第一复合壁和所述第二复合壁包括第一基底和第二基底、第一导体层和第二导体层、光敏层和第一介电层和第二介电层。

8.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一复合壁和第二复合壁还包括分别在所述第一介电层和第二介电层上的第一防污层和第二防污层。

9.根据权利要求7或8所述的设备，其中设置有间隔物以用于保持第一壁和第二壁分开预定的深度。

10.根据权利要求8所述的设备，其中所述间隔物是柱。

11.根据权利要求8所述的设备，其中所述间隔物是珠。

12.根据权利要求8所述的设备，其中所述间隔物是脊。

13.根据权利要求8所述的设备，其中所述间隔物设置为锥形通道。

14.根据权利要求6所述的设备，还包括A/C电源，所述A/C电源附接到导体层以在其间提供10-50伏的范围的电势差。