[发明专利]电阻测量方法、装置、调阻设备和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种电阻测量方法，其特征在于，应用于调阻设备中的主控板，所述调阻设备还包括测量卡、继电板和激光振镜控制卡，所述测量卡、所述继电板和所述激光振镜控制卡均与所述主控板电连接，所述方法包括：

为当前待调阻的目标电阻配置继电板及测量卡；

在所述继电板及测量卡配置完成的情况下，控制所述测量卡对所述目标电阻进行调阻前电阻测量；

在接收到所述测量卡发送的测量结束信号的情况下，控制所述激光振镜控制卡对所述目标电阻进行激光调阻，并为下一颗待调阻电阻配置继电板及测量卡；

在接收到所述激光振镜控制卡发送的调阻结束信号的情况下，控制所述目标电阻的测量卡对所述目标电阻进行调阻后电阻测量；

在接收到所述目标电阻的测量卡发送的测量结束信号的情况下，控制所述下一颗待调阻电阻的测量卡对所述下一颗待调阻电阻进行调阻前电阻测量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取当前待调阻的目标电阻的特征参数；

所述为当前待调阻的目标电阻配置继电板及测量卡，包括：

根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置继电板；

在所述继电板配置完成的情况下，根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置测量卡。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在获取当前待调阻的目标电阻的特征参数的步骤之后，所述方法还包括：

根据所述目标电阻的特征参数更新所述目标电阻的继电器参数，其中，所述继电器参数包括所述目标电阻的继电器通道；

为所述目标电阻置位配置标志，其中，所述配置标志用于表征所述目标电阻的继电板及测量卡配置是否完成。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述继电板配置完成的情况下，根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置测量卡的步骤，包括：

检测所述目标电阻的配置标志是否置零；

在检测到所述目标电阻的配置标志置零的情况下，根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置测量卡。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置继电板的步骤之后，所述方法还包括：

获取所述目标电阻的切割参数；

根据所述切割参数计算所述目标电阻的振镜坐标，并根据所述目标电阻的特征参数和计算得到的所述振镜坐标，更新所述目标电阻的特征参数和振镜坐标。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述继电板及测量卡配置完成的情况下，控制所述测量卡对所述目标电阻进行调阻前电阻测量的步骤之后，所述方法还包括：

在接收到所述测量卡发送的测量结束信号的情况下，获取所述下一颗待调阻电阻的特征参数；

根据所述下一颗待调阻电阻的特征参数更新所述下一颗待调阻电阻的继电器参数，其中，所述继电器参数包括所述下一颗待调阻电阻的继电器通道；

为所述下一颗待调阻电阻置位配置标志。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调阻设备与上位机通信连接，所述方法还包括：

接收所述上位机发送的调阻指令；

根据所述调阻指令从所述上位机下载待调阻电阻的特征参数和切割参数。