[发明专利]一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法及系统

权利要求书

1.一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，太阳望远镜将太阳光成像在探测器上，再由处于所述探测器内的集成处理芯片进行信号放大处理，再经过信号处理单元处理，得到太阳边缘信息，其中，所述探测器采用光电二极管阵列。

2.根据权利要求1所述的一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，在光电二极管阵列的面阵中，每一个光电二极管记录太阳边缘位置，同时输出光电信号。

3.根据权利要求2所述的一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，每一个光电二极管输出的光电信号经过集成处理芯片处理，得到太阳边缘灰度值。

4.根据权利要求3所述的一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，信号处理单元根据太阳边缘灰度值计算得到太阳边缘和中心位置。

5.根据权利要求1所述的一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，光电二极管阵列记录太阳边缘位置，从而确定光电二极管阵列中的两对或两对以上的处于太阳边缘位置的不同位置的光电二极管，利用相对应的差分输出信号给出精确的太阳边缘位置。

6.根据权利要求5所述的一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，太阳边缘位置发生变化，照射到光电二极管上的太阳面积发生变化，产生的光电信号也会发生变化，通过计算互相垂直的X和Y两个方向上的太阳中心位置的变化，得到太阳位置信息。

7.根据权利要求6所述的一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法，其特征在于，采用相对方向的光电二极管采集到的光电信号进行差分处理。

8.一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测系统，其特征在于，包括：

太阳望远镜，用于太阳光成像在探测器上；

探测器，采用光电二极管阵列；

集成处理芯片，用于信号放大处理；

信号处理单元，用于根据所述集成处理芯片处理的信息计算得到太阳边缘和中心位置。