[发明专利]一种曲线光条中心无偏校正方法在审
| 申请号: | 202111204939.6 | 申请日: | 2021-10-15 |
| 公开(公告)号: | CN113947543A | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
| 发明(设计)人: | 段发阶;刘昌文;傅骁;李佳欣;李天宇;郑好;韩彭威;艾双哲 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/62;G06T7/70 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
| 地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 曲线 中心 校正 方法 | ||
本发明涉及一种曲线光条中心无偏校正方法,包括以下步骤:使用Steger法提取光条中心,得到光条中心点坐标及其法向量;确定相邻点搜索半径和法线方向搜索半径,设Gi+j(x)为第i个中心点的第j个相邻点法线上各点的灰度,把Gi‑r(x)~Gi+r(x)共2r+1个由灰度值所构成的一维数组作为新图像的各行,得到新图像INi;用高斯核与各个新图像进行卷积,得到第r+1行的灰度分布gc1(x)~gcm(x);对gci(x)上各点进行二阶泰勒展开,得到pi,x;因为距离中心点越近二阶泰勒展开的拟合效果越好,校正后得到新的光条中心。
技术领域
本发明属于仪器仪表技术领域,特别是一种曲线光条中心无偏校正方法。
背景技术
由于非接触、高精度、灵活的优点,线结构光测量方法已经应用于多个领域,如三维重构、逆向工程、工业检测。图1展示了线结构光测量示意图,其中包括主要包括线激光器、相机、位移台。线激光器在物体上投射出光条,光条的形状被物体表面形貌调制,相机捕获光条图片后位移台带动被测物体使光条与物体相对运动,对下一个位置进行测量。被测物体表面的三维特征信息由光条中心位置反应,因此光条中心提取的精度对线结构光测量结果有很大的影响。
高斯平滑是去除图像噪声的常用操作,这对提升图像质量、减少虚假响应有非常重要的作用,这也是很多提取方法中不可或缺的步骤。提取光条中心的方法有Steger法、轮廓分割法、灰度重心法等,这些方法在提取沿法线方向对称分布的直线型光条有较好的效果,但是实际应用中的光条经常是曲线结构,对于曲线结构,用于图像平滑的高斯核会导致该处光条灰度分布发生明显变化,如图2所示,横坐标为中心点在法线上的坐标,纵坐标为灰度值,n为高斯核半径,当高斯核半径增大,灰度分布的峰值逐渐偏移,这个现象导致在提取曲线光条中心时结果相对真实值有偏移。
发明内容
本发明的目的是提供一种曲线光条中心无偏校正方法,减小曲线光条中心点坐标的误差,提高线结构光测量的精度。
本发明采取的技术方案是一种曲线光条中心无偏校正方法,具体包括以下步骤:
第1步:使用Steger法提取光条中心,得到m个光条中心点坐标P1~Pm及其法向量v1~vm。
第2步:确定相邻点搜索半径r和法线方向搜索半径d,设Gi+j(x)为第i个中心点的第j个相邻点法线上各点的灰度,x表示在法线上与中心点的距离,j、x为整数且j∈[-r,r],x∈[-d,d],则Gi+j(x)是长度为2d+1的一维数组,把Gi-r(x)~Gi+r(x)共2r+1个由灰度值所构成的一维数组作为新图像的各行,得到尺寸为2r+1×2d+1的新图像INi,对所有中心点执行以上操作,共得到m个新图像IN1~INm,如果某个中心点没有2r个相邻点,则新图像缺失的行用0填满;
第3步:用高斯核与各个新图像在r+1行以d+1为原点进行卷积,得到第r+1行的灰度分布gc1(x)~gcm(x),x∈[-d,d],其中gc1~gcm为长度为2d+1的一维数组,一维数组中各点用Pi,x表示,其中,P1,0对应gc1中x=0的点;
第4步:对gci(x)求一阶导数g'ci(x)和二阶导数g”ci(x),其中i∈[1,m];
对gci(x)上各点进行二阶泰勒展开,即:
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