[发明专利]一种基于RFID非接触式智能卡的芯片检测方法及系统

说明书

本申请涉及一种基于RFID非接触式智能卡的芯片检测方法及系统，其方法包括：获取初始设备的数据信息，作为第一数据信息；读取相应的智能卡的存储信息，作为第一存储信息；对比所述第一数据信息与所述第一存储信息，并获得第一对比结果；若第一对比结果为相异，生成错误报告。本申请具有降低设备后期运维过程中的困难性，提高设备的维修效率的效果。

技术领域

本申请涉及射频识别技术领域，尤其是涉及一种基于RFID非接触式智能卡的芯片检测方法及系统。

背景技术

RFID技术即无线射频识别技术，是一种非接触的自动识别技术，其基本原理是利用射频信号和空间耦合(电感或电磁耦合)或雷达反射的传输特性，实现对被识别物体的自动识别。

非接触式智能卡中的芯片通过类似于RFID的感应技术与读卡器进行通信，无需插卡拔卡等动作，只需要靠近读卡器就可以读出智能卡中的信息，使用便捷，且应用场景也比较丰富。

目前很多在运行过程中不方便打开的设备上通常会固定智能卡，然后会将这些设备内部的仪器类型及型号等数据，存储到智能卡的芯片中。设备的壳体以及智能卡的表面通常会固定有相互对应的标签，从而方便将智能卡对应到相应的设备上。

然而由于标签张贴通常由人工操作，可能存在失误的情况，容易导致智能卡存储的数据与实际设备内的仪器不符，会对后期设备的运维检测造成困难，降低了设备的维修效率。

发明内容

为了降低设备后期运维过程中的困难性，提高设备的维修效率，本申请提供一种基于RFID非接触式智能卡的芯片检测方法及系统。

第一方面，本申请提供一种基于RFID非接触式智能卡的芯片检测方法，采用如下的技术方案：

一种基于RFID非接触式智能卡的芯片检测方法，包括：

获取初始设备的数据信息，作为第一数据信息；

读取相应的智能卡的存储信息，作为第一存储信息；

对比所述第一数据信息与所述第一存储信息，并获得第一对比结果；

若第一对比结果为相异，生成错误报告。

通过采用上述技术方案，首先获取初始设备的数据信息作为第一数据信息，并且读取相应设备的智能卡内芯片的存储信息作为第一存储信息，并且将第一数据信息与第一存储信息进行对比，然后获得第一对比结果，如果第一对比结果为不同，就生成错误报告，从而提醒检查人员设备内相关仪器的数据与智能卡芯片中的数据不同，从而能够提前对芯片进行检查，降低设备后期运维过程中的困难性，提高设备的维修效率。

作为优选，还包括：

当所述第一对比结果为相异时，获取相应设备的设备编号，作为第一设备编号；

获取所述智能卡的芯片编号；

判断所述芯片编号与所述第一设备编号是否匹配；

若否，则生成编号错误信息；

其中，所述第一数据信息包括所述第一设备编号。

通过采用上述技术方案，第一对比结果不同时，获取第一数据信息中的第一设备编号，然后获取智能卡的芯片编号，并将芯片编号与第一设备编号进行匹配，如果匹配成功则证明芯片没有使用错误，但是芯片的数据错误，如果匹配不成功，则生成编号错误信息，从而提示检查人员智能卡使用错误，能够进一步提高判断智能卡使用是否正确的概率。

作为优选，所述生成编号错误信息之后还包括：

取其他设备的数据信息，作为第二数据信息；

将所述第一存储信息与所述第二数据信息进行匹配；

匹配成功时，获取对应的所述第二数据信息中的第二设备编号并输出；

其中，所述第二数据信息包括所述第二设备编号。