[发明专利]一种FPC成型摆盘成测一体工艺

权利要求书

1.一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，包括：

步骤S100、获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带上；

步骤S200、获取传送带上的FPC产品图像并对FPC产品进行一次良品检测；

步骤S300、通过第一机械手拾取第一良品至第一料盘，第一不良品的FPC至不良品盒中，其中，第一良品为步骤S200中判断为良品的FPC产品，第一不良品为步骤S200中判断为不良品的FPC产品；

步骤S400、自动成测设备拾取装满第一良品的第一料盘并送至测试治具中，并对第一料盘上的第一良品进行二次良品检测，并拾取第二良品至第二料盘中，拾取第二不良品至第三料盘中，其中，第二良品为测试治具判断为良品的第一良品，第二不良品为测试治具判断为不良品的第一良品。

2.如权利要求1所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤S100中，所述获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带上具体为：

步骤S110、将待成型的半成品FPC放置到冲床上，启动冲床；

步骤S120、冲床将半成品FPC冲压成单个FPC成品，收集单个FPC成品将将其放置到传送带上。

3.如权利要求1所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤S200中，所述第一良品为FPC产品上贴装器件区贴装有相应器件；所述第一不良品为FPC产品上贴装器件区未贴装器件。

4.如权利要求3所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤S200中，所述对FPC产品进行一次良品检测的步骤为：

步骤S211、获取FPC产品的图像；

步骤S212、将获取的FPC产品的图像与预设的第一良品的图像进行相似度对比，其中，相似度超过阈值的FPC产品图像所对应的FPC产品为第一良品，相似度低于阈值的FPC产品图像所对应的FPC产品为第一不良品。

5.如权利要求1所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤200中，在获取传送带上FPC产品的图像时还获取FPC产品在传送带上的位置信息并将位置信息发送至第一机械手。

6.如权利要求5所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，所述获取FPC产品在传送带上的位置具体步骤包括：

步骤S221、对获取的FPC产品的图像画棋盘格；

步骤S222、识别FPC产品，并判断FPC产品在棋盘格的位置以识别FPC产品的坐标信息并将其发送至第一机械手。

7.如权利要求1所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤S400中，还包括以下步骤：

S411、将空料盘放置到自动成测设备的空盘存放处；

S412、自动成测设备将空料盘分别输送至第二料盘存放位和第三料盘存放位并叠加在满盘的第二料盘和第三料盘上以放置第二良品和第二不良品。

8.如权利要求7所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤S400中，还包括：

步骤S413、所述自动成测设备对检测出的第二不良品打标以区分第二不良品。

9.如权利要求7所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺，其特征在于，步骤S400中，还包括以下步骤：

步骤S420、获取第二料盘存放位和第三料盘存放位的高度；

当第二料盘存放位或第三料盘存放位的料盘高度没有超过阈值时，继续叠放第二料盘或第三料盘，当第二料盘存放位或第三料盘存放位的料盘高度超过阈值时，将超过阈值的料盘运送至下料工位。