[发明专利]一种线性位移测量装置在审
申请号: | 202111182296.X | 申请日: | 2021-10-11 |
公开(公告)号: | CN113804114A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 徐福君;郭红阳;谌孙杰;徐卫明;马全利;丁仕鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳市宝利根精密仪器有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人: | 张君男 |
地址: | 518128 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 线性 位移 测量 装置 | ||
本发明涉及位移测量技术领域,特别涉及一种线性位移测量装置,它包括有固定座和能够在固定座上做升降滑动的测轴;固定座上设置有用于测量测轴与基准位置之间的距离的位移测量组件;固定座上设置有托举组件。在使用本发明时,能够使得测头对被测物体提供一个稳定的测量,在准确测量零件尺寸外,还能够防止被测零件的表面变形。
技术领域
本发明涉及位移测量技术领域,特别涉及一种线性位移测量装置。
背景技术
光栅线性位移传感器广泛应用在各类精密尺寸测量中。对于常规的机械零部件尺寸测量,传统的光栅线性位移传感器测量装置能很好地满足基本应用需求。
通常的测量装置都是利用线性传感器自重或使用弹簧向测量轴施加力,从而获得测量触头对被测件的必要的接触压力(测量力)。由此产生的测量力往往都比较大(例如1N以上)或者由于弹簧施力的原因,在不同行程处测量力是有所变动的。
但在许多特殊的精密零件,例如轻薄零件、软质材料零件、弹性零件等,过大的测量力会造成被测件结构或被表面变形,使得测量结果失真,同时变动的测量力也会造成测量重复性精度的严重损失。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术的缺陷和不足,提供一种线性位移测量装置。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
本发明所述的一种线性位移测量装置,它包括有固定座和能够在固定座上做升降滑动的测轴;所述固定座上设置有用于测量测轴与基准位置之间的距离的位移测量组件;所述固定座上设置有托举组件。
进一步地,所述托举组件除了能够将测轴向上抬升还能够为测轴提供一个不足以将测轴举起的支撑力。
进一步地,所述托举组件包括有能够在固定座上滑动的升降座、带动升降座做升降运动的升降机构和连接在升降座上的摆杆。
进一步地,所述摆杆的杆身与升降座之间通过转轴转动连接。
进一步地,所述摆杆上设置有配重组件;所述固定座上设置有摆杆位置检测组件;摆杆位置检测组件使得检测摆杆的倾角到达设定后产生信号;摆杆位置检测组件包括有升降座上固定有杠杆位置开关和摆杆的杆身上设置有杠杆遮板。
进一步地,所述配重组件包括有固定在摆杆上的调节丝杆和螺纹连接在调节丝杆上的配重块。
进一步地,所述配重块上设置有螺纹孔;所述螺纹孔内螺纹连接有压紧在调节丝杆上的锁紧螺栓。
进一步地,所述固定座上固定有上限位开关;所述升降座上固定有升降限位遮板。
进一步地,所述测轴的上设置有滚轮;所述滚轮的轮身压紧在摆杆的上表面;滚轮通过滚轮固定座固定在测轴上。
进一步地,所述位移测量组件包括有固定在测轴上的光栅板和固定在固定座上的光栅编码器;所述光栅板的两侧表面上均设置有导轮;所述导轮固定在编码器座上。
采用上述结构后,本发明有益效果为:本发明所述的一种线性位移测量装置,它包括有固定座和能够在固定座上做升降滑动的测轴;固定座上设置有用于测量测轴与基准位置之间的距离的位移测量组件;固定座上设置有托举组件。在使用本发明时,固定座上连接有测轴滑动连接的导套;固定座通过两块立板、固定在两块立板之间的多块侧板组成;测轴被托举组件提升到原始位置处,然后在测头的下方放置被测量物体,通过托举组件将测轴缓慢下放,直到测头与被测物体接触之前,测轴受到托举组件的支撑力均为F,且该F等于测轴的自身重力G,当测头与被测物体接触后,对测轴受力进行分析,测轴自身的重力G,测轴受到托举组件的支撑力f,而被测物对测轴的支撑力N,三者合力为零;当托举组件对测轴的支撑力f到设定值后;通过位移测量组件测量出当前位移值与初始值进行比对,得出被测物的尺寸。能够使得测头对被测物体提供一个稳定的测量,在准确测量零件尺寸外,还能够防止被测零件的表面变形。
附图说明
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