[发明专利]基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法有效

专利信息
申请号: 202111168328.0 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113848602B 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: 董国艳;王欢欢 申请(专利权)人: 中国科学院大学
主分类号: G02B5/08 分类号: G02B5/08
代理公司: 济南日新专利代理事务所(普通合伙) 37224 代理人: 王书刚
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 级联 周期 多层 宽带 全向 反射 方法
【权利要求书】:

1.一种基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法,其特征是:

以高折射率和低折射率两种材料排列成准周期序列,排列顺序不变的情况下高折射率和低折射率材料互换的序列称为反转序列;第一中心波长λ1的准周期序列与其反转序列形成第一组合单元;第二中心波长λ2的准周期序列与其反转序列形成第二组合单元;两种组合单元级联在一起,重复排列,获得级联式准周期多层膜,对全方位入射光实现超宽带高反射;

两种组合单元各自经过重复排列得到的多层膜系,在其中心波长周围出现不连续的高反射带;调整其中一个组合单元膜系的中心波长及各层介质光学厚度,用其高反带填补另一组合单元膜系高反射带中的缺陷部分,级联两种组合单元使得其反射谱互补连接,最终获得连续超宽的全向高反射膜。

2.根据权利要求1所述的基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法,其特征是:所述准周期序列适用于各种类型非周期准晶序列。

3.根据权利要求1所述的基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法,其特征是:所述第一组合单元的准周期序列中的高折射率和低折射率两种材料的光学厚度都是中心波长λ1的四分之一。

4.根据权利要求1所述的基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法,其特征是:第二组合单元的准周期序列中的高折射率和低折射率两种材料的光学厚度都是中心波长λ2的四分之一。

5.根据权利要求1所述的基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法,其特征是:所述第二中心波长λ2要根据第一组合单元多层膜系的高反射带中的缺陷带特征调整确定。

6.根据权利要求1所述的基于级联式准周期多层膜的超宽带全向高反射方法,其特征是:所述两种组合单元级联的重复排列次数由制备条件决定,重复次数越多,反射率越接近1。

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