[发明专利]一种多线切割后的碳化硅晶片清洗方法在审

专利信息
申请号: 202111157025.9 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113857140A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 王升;陈辉;李有群;贺贤汉 申请(专利权)人: 安徽微芯长江半导体材料有限公司
主分类号: B08B3/08 分类号: B08B3/08;B08B3/10;B08B3/12;B08B3/04
代理公司: 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 代理人: 李坤
地址: 244000 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 切割 碳化硅 晶片 清洗 方法
【权利要求书】:

1.一种多线切割后的碳化硅晶片清洗方法,其特征是:多线切割后的碳化硅晶片依次经过如下工艺步骤:

S1,清洗前预处理:酸液浸泡碳化硅晶片,酸液为体积浓度为2~6%盐酸溶液,浸泡时间为30~60min;

S2,一号QDR槽鼓泡及快排,所述的鼓泡气源为压缩空气,压缩空气压力为0.1~0.6Mpa,鼓泡时间60~120S,使用中水,温度20~50℃,快排1~3次;

S3,二号槽市水超声清洗,超声频率28Hz,超声时间10~20min,水温20~50℃;

S4,三号槽药液超声清洗,超声频率28Hz,超声时间10~20min,药液温度50~80℃;

S5,四号槽药液超声清洗,超声频率40Hz,超声时间10~20min,药液温度50~80℃,其中的药液为质量百分浓度为0.5%-3%的NaOH溶液;

S6,五号槽市水超声溢流漂洗,超声频率40Hz,超声时间3~5min,水温20~50℃, 溢流速度3~10升/min;

S7,六号槽热风干燥。

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