[发明专利]一种基于大电流的红外检测导线缺陷的方法

说明书

本发明涉及导线缺陷检测技术领域，公开了一种基于大电流的红外检测导线缺陷的方法，该方法通过将任意路径的三相导线转变为环路，再在三相导线上通入一大电流，持续一段时间后，使用红外测温设备对三相导线进行巡检，最后根据红外测温结果判定三相导线的任意位置是否存在缺陷或缺陷程度。本发明能够有效、快捷且安全地实现三相导线缺陷的检测，解决了现有红外检测导线缺陷的方案较难辨别导线缺陷点、不便回收巡检设备及进行数据后处理的技术问题。

技术领域

本发明涉及导线缺陷检测技术领域，尤其涉及一种基于大电流的红外检测导线缺陷的方法。

背景技术

当导线某处存在缺陷时，例如发生故障或者接触不良，其表面温度场会发生变化，反映在红外图像上就是缺陷处的像素亮度和其他未损害的地方有一定区别。

目前采用红外检测方法对导线进行缺陷检测时，通常是直接对正常运行的导线进行巡检。这种缺陷检测存在以下缺点：

导线温度受到实际负荷的影响，可能在一定范围内发生波动，同时正常运行的导线电流一般在设计最大载流量以下，此时导线温升相较于环境而言并不明显，缺陷点与非缺陷点之间温度差距较小，辨别导线缺陷点较为困难；此外，巡检的始末端不在同一处，会对巡检设备回收及数据后处理带来不便。

因此，亟需提出一种有效、快捷且安全的红外检测导线缺陷的方法解决现有红外检测存在的问题。

发明内容

本发明提供了一种基于大电流的红外检测导线缺陷的方法，能够有效、快捷且安全地实现导线缺陷的检测，解决了现有红外检测导线缺陷的方案较难辨别导线缺陷点、不便回收巡检设备及进行数据后处理的技术问题。

本发明提供的一种基于大电流的红外检测导线缺陷的方法，包括：

对待巡检三相导线进行改接，使所述待巡检三相导线组成首端和末端均在同一侧的环路；

在所述待巡检三相导线中通入大电流并持续一预置时间；

待预置时间到达时结束通入大电流，采用红外测温设备巡检所述待巡检三相导线。

根据本发明方法的一种能够实现的方式，所述对待巡检三相导线进行改接，包括：

将所述待巡检三相导线中的第一相导线和第二相导线并联；

在所述第一相导线和第二相导线的一个并联节点侧串联所述待巡检三相导线中的第三相导线。

根据本发明方法的一种能够实现的方式，在所述待巡检三相导线中通入大电流的电流数值为2.0～2.5倍经济电流密度。

根据本发明方法的一种能够实现的方式，所述预置时间根据所述待巡检三相导线通入大电流后至温度稳定所需的时间常数确定。

根据本发明方法的一种能够实现的方式，所述时间常数按照下列公式确定：

式中：θ表示待巡检三相导线通入大电流后至温度稳定所需的时间常数，单位为s；m为待巡检三相导线质量，单位为kg；C为待巡检三相导线材料比热容，单位为J/(kg·℃)；h_z为等效对流换热系数，单位为W/(m²·K)；X为有效散热面积，单位为m²。

根据本发明方法的一种能够实现的方式，所述在所述待巡检三相导线中通入大电流，包括：

将大电流发生装置接入所述待巡检三相导线；

开启所述大电流发生装置并启动计时，使所述大电流发生装置输出的大电流通入所述待巡检三相导线。

根据本发明方法的一种能够实现的方式，所述采用红外测温设备巡检所述待巡检三相导线，包括：