[发明专利]芯片的测试方法、装置、设备及系统

说明书

本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片的测试方法、装置、设备及系统，该芯片的测试方法，应用于测试设备，该方法包括：获取验证环境输出的寄存器配置文件；转换寄存器配置文件，生成适配文件，并搭建软件测试环境，其中，适配文件适配测试设备的测试软件的软件测试代码；构建测试用例，并执行测试用例，以对芯片进行测试。通过获取验证环境输出的寄存器配置文件，转换该寄存器配置文件得到适配文件，该适配文件适配测试设备的测试软件的软件测试代码，从而能够直接嵌入到软件测试环境中，使得直接进入到软件主体测试环境的编写阶段，使得本申请能够提高芯片的测试效率，缩短芯片开发周期。

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，特别是涉及一种芯片的测试方法、装置、设备及系统。

背景技术

目前，国内芯片发展面临着巨大的挑战，而对于芯片的开发，除了芯片制造的发展瓶颈外，最大的问题在于开发周期非常漫长，从制定芯片规范，到芯片最终量产，需要大量的人力和时间。不少企业在芯片开发时为了能够早日量产，会采用各种不同的缩短芯片开发周期的方法。而数字芯片逻辑验证在整个芯片的开发周期中，担任着非常重要的角色。一份理想的验证方案，不仅能够保证芯片在逻辑上的正确性，增加一次性量产芯片的成功率，还可以帮助到系统软件测试缩短开发周期，增加切换不同场景测试的高效性。

目前，软件测试人员通常需要完成寄存器的配置工作，当面对复杂庞大的寄存器群组时，很容易出现错误，而查找这种错误需要消耗大量的时间，导致芯片测试效率非常低，对开发周期有着一定的影响，并且一旦设计人员修改一些寄存器，就会产生连锁修改效应，费时费力，很不方便。

发明人在实现本发明的过程中，发现目前的技术方案至少存在以下技术问题：芯片的测试效率不足。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片的测试方法、装置、设备及系统，其解决了目前芯片的测试效率不足的技术问题，以提高芯片的测试效率，缩短芯片开发周期。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种芯片的测试方法，应用于测试设备，所述方法包括：

获取验证环境输出的寄存器配置文件；

转换所述寄存器配置文件，生成适配文件，并搭建软件测试环境，其中，所述适配文件适配所述测试设备的测试软件的软件测试代码；

构建测试用例，并执行所述测试用例，以对所述芯片进行测试。

在一些实施例中，所述搭建主体测试环境，包括：

将所述适配文件集成到测试设备的初始测试环境，以得到所述主体测试环境。

在一些实施例中，所述寄存器配置文件由验证设备从逻辑验证环境中生成。

在一些实施例中，所述验证设备从逻辑验证环境生成寄存器配置文件，包括：

基于逻辑验证环境，生成寄存器头文件；

扩展第一寄存器映射类，生成第二寄存器映射类；

基于所述第二寄存器映射类，重写任务总线的读任务和写任务分别对应的第一任务体和第二任务体；

从所述第一任务体和第二任务体中分别增加第一函数，通过所述第一函数产生寄存器定义文件，其中，所述寄存器定义文件适配所述测试设备的测试软件的软件测试代码；

组合所述寄存器头文件和寄存器定义文件，生成所述寄存器配置文件。

在一些实施例中，所述通过所述第一函数产生寄存器定义文件，包括：

根据芯片的逻辑模块、读写类型、寄存器名、寄存器域、数据长度，结合所述测试设备的测试软件所需的格式，生成寄存器定义文件。