[发明专利]一种测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法

权利要求书

1.一种测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法，其特征在于：确定双层板Lamb波截止频率与双层板厚度比的变化曲线，通过实验测得截止频率，找到对应的厚度比，求出每一层的厚度。

2.根据权利要求1所述的测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法，其特征在于，双层板Lamb波截止频率f_c与厚度比r之间的关系为：

或

其中，ρ_i为两板的密度，c_Li为纵波速度，c_Ti为横波速度，r为厚度比，i表示在第几层，i＝1、2，d为双层板的总厚度。

3.根据权利要求2所述的测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法，其特征在于，在材料密度、横波速度和双层板总厚度已知的情况下，得到不同厚度比r下，对应的Lamb波截止频率，得到双层板Lamb波截止频率随厚度比r变化的曲线。

4.根据权利要求3所述的测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法，其特征在于，各层厚度用双层板厚度比和总厚度来描述。

5.根据权利要求3所述的测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法，其特征在于，利用超声纵波直探头进行Lamb波厚度共振模式的激发探测实验，得到待测样品的截止频率，再对照截止频率随双层板厚度比变化的曲线，可以找到对应的厚度比。

6.根据权利要求5所述的测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法，其特征在于，利用超声直探头激励薄双层板，探头通过耦合剂垂直于样品表面进行激励，超声探头自身又作为探测装置通过超声信号发生器与示波器相连；探测得到时域信号，经傅里叶变换后得到频谱，利用频谱中得到的共振峰频率值，对照Lamb波截止频率随厚度比r变化的曲线，找到相应的厚度比r，求出双层板第一层厚度h₁为：第二层厚度h₂为：

7.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1～6中任一项所述测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1～6中任一项所述测量双层板各层厚度的Lamb波厚度共振方法的步骤。