[发明专利]一种验证内存软错误后开出可靠性的自动测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种验证内存软错误后开出可靠性的自动测试系统及方法，系统包括：参数设置模块，显示模块，控制试验仪，对时模块，判断模块，电源模块和故障保护模块。方法包括：设置验证参数，修改待测装置的代码段内存和/或数据段内存；显示参数；对待测装置施加或停止故障量；待测装置、所述参数设置模块、所述显示模块和所述控制试验仪进行对时；根据待测装置的监视状态，判断是否向待测装置重新掉上电；对待测装置提供或断开电源；根据待测装置的响应情况，进行保护措施。本发明测试时无需人工干预，自动进行多轮次长期拷机测试，出现异常后能够自动停止测试，保护现场，方便快速定位问题。

技术领域

本发明涉及继电保护装置测试技术领域，特别涉及一种验证内存软错误后开出可靠性的自动测试系统及方法。

背景技术

随着继电保护装置投入运行的年限不断增加以及变电站复杂的工作环境，芯片内部由于外界辐射等各类因素很容易出现内存软错误，导致装置误动作、拒动等异常问题。继电保护装置的可靠性对电网的安全运行有着重要的作用。因此发生内存软错误后装置响应情况是需要关注的一个重点。

目前国内大多数厂家对继电保护产品的测试主要是针对继电保护功能及保护逻辑测试，对涉及内存软错误仅局限于软硬件看门狗有效性测试、以及手动模拟内存软错误测试装置可靠性，缺少成体系的内存可靠性测试方法及工具。

现有的手动测试有很大的局限性，覆盖面极其有限，且耗费人力和时间。在继电保护装置测试领域未找到一种验证继电保护装置内存软错误后开出可靠性的自动测试系统。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种验证内存软错误后开出可靠性的自动测试方法及系统，测试时无需人工干预，自动进行多轮次长期拷机测试，出现异常后能够自动停止测试，保护现场，方便快速定位问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种验证内存软错误后开出可靠性的自动测试方法，其中，包括：

参数设置模块，用于设置验证参数，修改待测装置的代码段内存和/或数据段内存。

显示模块，用于显示参数。

控制试验仪，用于对待测装置施加或停止故障量。

对时模块，用于对待测装置、所述参数设置模块、所述显示模块和所述控制试验仪进行对时。

判断模块，用于根据待测装置的监视状态，判断是否向待测装置重新掉上电。

电源模块，用于对待测装置提供或断开电源。

故障保护模块，用于根据待测装置的响应情况，进行保护措施。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述参数设置模块包括：

内存地址设置单元，用于设置修改内存的起始地址、每次修改的内存长度和修改内存的总长度。

内存写入设置单元，用于设置每次被修改的内存的写入值。

时钟设置单元，用于设置系统时钟地址、修改时钟系统地址的偏移和每次修改的时间间隔。

预期设置单元，用于设置待测装置的预期结果。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述显示模块包括：

内存地址显示单元，用于显示每次写内存前读取被写内存的地址和原始值。

内存写入显示单元，用于显示每次修改的内存地址和写入值。

时钟显示单元，用于显示读取和/或写入的系统时钟。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述判断模块包括：