[发明专利]信号检测天线、方法、系统、装置、检测设备及存储介质在审
| 申请号: | 202111138623.1 | 申请日: | 2021-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN113871840A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
| 发明(设计)人: | 颜天佑;蔡蒂;刘福来;卢灏;王学良 | 申请(专利权)人: | 广东电网有限责任公司广州供电局 |
| 主分类号: | H01Q1/22 | 分类号: | H01Q1/22;H01Q1/36;H01Q1/38;H01Q1/50;G01R31/12 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 缪成珠 |
| 地址: | 510665 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信号 检测 天线 方法 系统 装置 设备 存储 介质 | ||
本申请涉及一种信号检测天线、方法、系统、装置、检测设备及存储介质。该信号检测天线包括:非对称构件、雪花形辐射器、信号传输构件和信号检测构件。信号检测天线中的非对称构件和信号检测构件可以辅助雪花形辐射器检测来自各个方向电力设备辐射的电磁波信号,并且降低下限截止频率提高检测带宽、增大了信号检测天线的增益,使得该信号检测天线可以同时满足带宽、体积、增益和保真度等性能参数的需求。
技术领域
本申请涉及天线技术领域,特别是涉及一种信号检测天线、方法、系统、装置、检测设备及存储介质。
背景技术
局部放电对绝缘的破坏作用是一个缓慢发展过程,长期的局部放电会破坏绝缘结构,造成绝缘老化,绝缘失效区域由小变大、由局部扩大到整体,最终发展成贯穿性击穿或沿面闪络而引起突发性绝缘故障。目前,局部放电在线监测方法主要有超声波法和特高频法。其中,特高频法具有灵敏度高和抗干扰能力强的优点,在特高频法局部放电检测系统中,特高频天线是核心部件,其优良性能是成功检测局部放电信号的基本保障。
传统技术中,特高频天线按照形状和原理,大致分为圆盘耦合器、螺旋天线、环形天线、分形天线、Vivaldi天线、微带单极子天线和立体结构天线。但是,这些天线不能同时满足检测过程中对带宽、体积、增益和保真度等性能参数的需求。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种信号检测天线、方法、系统、装置、检测设备及存储介质。
一种信号检测天线,所述信号检测天线包括:非对称构件、雪花形辐射器、信号传输构件和信号检测构件;
所述非对称构件和所述信号传输构件分别设置于所述雪花形辐射器的两端,所述信号传输构件和所述信号检测构件相背设置,所述雪花形辐射器的边界为Koch向外分形曲线结构。
在其中一个实施例中,所述非对称构件为非对称铜条,所述雪花形辐射器为雪花形铜片,所述信号传输构件为信号传输铜条,所述信号检测构件为信号检测铜片。
在其中一个实施例中,所述非对称铜条包括第一铜条和第二铜条,所述第一铜条和第二铜条之间首尾垂直相连,其中,所述第二铜条的一端与所述第一铜条的一端垂直相连,所述第二铜条的另一端与所述雪花形铜片的上端连接。
在其中一个实施例中,所述第一铜条和所述第二铜条的形状均为矩形,且所述第一铜条的长度大于第二铜条的长度,所述第一铜条的宽度小于所述第二铜条的宽度。
在其中一个实施例中,所述信号传输铜条的形状为矩形,且所述信号传输铜条的宽度小于所述第一铜条的宽度和所述第二铜条的宽度。
在其中一个实施例中,所述信号检测天线还包括绝缘板,所述非对称铜条、所述雪花形铜片和所述信号传输铜条均设置于所述绝缘板的正面,所述信号检测铜片设置于所述绝缘板的下部背面。
在其中一个实施例中,所述绝缘板的表面积大于所述非对称铜条、所述雪花形铜片、所述信号传输铜条和所述信号检测铜片的表面积之和。
在其中一个实施例中,所述绝缘板的形状为正方形,且材质为聚四氟乙烯。
一种信号检测方法,所述方法包括:
获取特高频天线检测到的电磁波信号;其中,所述特高频天线为上述任一实施例中的信号检测天线;
对所述电磁波信号进行分析处理,得到分析结果;
将所述分析结果的特征与标准局部放电谱图特征进行比较,并根据比较结果确定所述电磁波信号为局部放电信号。
在其中一个实施例中,所述将所述分析结果的特征与标准局部放电谱图特征进行比较,并根据比较结果确定所述电磁波信号为局部放电信号,包括:
若所述分析结果的特征与标准局部放电谱图特征一致,则将所述电磁波信号确定为所述局部放电信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东电网有限责任公司广州供电局,未经广东电网有限责任公司广州供电局许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111138623.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





