[发明专利]一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件

说明书

本发明公开了一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件，首先向SSD的NAND中依次写入数据、读取数据及擦除数据，并记录SSD的当前总PE次数，确定读取数据的错误率，将错误率达到预设错误率阈值的当前总PE次数作为SSD的最大PE次数，然后确定SSD的最小PE次数，并根据最小PE次数和最大PE次数确定SSD的PE次数范围。本申请通过将数据的错误率达到预设错误率阈值的当前总PE次数作为SSD的最大PE次数的方式，能够最大化地利用SSD。通过该种确定PE次数范围的方式，一方面使得同类规格的SSD可以按照PE次数范围进行磨损均衡，另一方面，也延长了SSD的使用寿命，能最大程度地发挥SSD的性能。

技术领域

本发明涉及固态硬盘领域，特别是涉及一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件。

背景技术

SSD(Solid State Disk，固态硬盘)由控制单元与存储单元组成。目前，SSD的存储单元大多采用NAND颗粒，SSD读取或写入的最小单元是由一组颗粒组成的Page。由于SSD没有重写机制，若要对写满的Page写入新的数据，SSD需要对已经写入的数据进行擦除操作，而擦除操作的最小单元是由若干个Page组成的Block。但是每个Block可执行有限次数的擦除操作，也称之为PE(Program Erase，编程擦除)周期，当写入非常频繁时，擦除操作发生得更频繁。现有技术中存在Block的PE次数过大的情况，从而导致Block本身受损失效，进而影响SSD的使用寿命。

发明内容

本发明的目的是提供一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件，一方面使得同类规格的SSD可以按照PE次数范围进行磨损均衡，另一方面也延长了SSD的使用寿命，能最大程度地发挥SSD的性能。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种SSD的PE次数范围确定方法，包括：

向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据，并记录所述SSD的当前总PE次数；

基于读取的所述数据确定所述数据的错误率；

在所述数据的错误率达到预设错误率阈值时，确定所述当前总PE次数作为所述SSD的最大PE次数，否则，返回向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据的步骤；

确定所述SSD的最小PE次数，并根据所述最小PE次数和所述最大PE次数确定所述SSD的PE次数范围。

优选的，确定所述SSD的最小PE次数，包括：

确定所述SSD的平均PE次数；

确定所述最大PE次数减去所述平均PE次数得到的差值；

将所述平均PE次数减去所述差值得到的值作为所述SSD的最小PE次数。

优选的，确定所述SSD的最小PE次数，包括：

获取所述SSD的每个Block的PE次数；

将所有所述Block的PE次数中的最小值作为所述SSD的最小PE次数。

优选的，确定所述SSD的平均PE次数，包括：

根据所述SSD的写放大次数、在所述SSD的预期寿命天数内每天可完整写入所述SSD的所有容量的次数、所述SSD的预期寿命天数及所述SSD的保留区占比得到所述SSD的平均PE次数；

其中，SSD的平均PE次数＝wa*dwpd*max_days/(1+op)；

wa为所述SSD的写放大次数，dwpd为在所述SSD的预期寿命天数内每天可完整写入所述SSD的所有容量的次数，max_days为所述SSD的预期寿命天数，op为所述SSD的保留区占比。

优选的，确定所述SSD的平均PE次数，包括：