[发明专利]一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法

权利要求书

1.一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：将介电响应测试仪连接滤波模块，再对变压器固体绝缘进行频域介电响应测试以得到其频域介电谱的FDS曲线；

S2：对频域介电谱的FDS曲线进行平滑处理；

S3：采用处理后的频域介电谱的FDS曲线进行后续的分析处理。

2.根据权利要求1所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述步骤S1中滤波模块包括带通滤波器。

3.根据权利要求2所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述带通滤波器的上剪切频率f_s'＝f_s-Δf，带通滤波器的下剪切频率f_x'＝f_x+Δf，其中，f_s为采用介电响应测试仪行频域介电响应测试的上测试频率，f_x为采用介电响应测试仪行频域介电响应测试的下测试频率，f_x＞f_s，Δf为设置的频率冗余值。

4.根据权利要求1所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述步骤S2对频域介电谱的FDS曲线进行平滑处理具体包括：对于测试得到的频域介电谱的FDS曲线出现负值的数据点取绝对值。

5.根据权利要求4所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述步骤S2对频域介电谱的FDS曲线进行平滑处理还包括：对于曲线上丢失的数据进行线性插值，具体方法如下：设同一频域介电谱上相邻2个测点的坐标分别为(f₁,tanθ₁)、(f₂,tanθ₂)，则在该频域介电谱的曲线上这两个测点之间的任意点(f,tanθ)为：

tanθ₁为频率f₁下的介损值；tanθ₂为频率f₂下的介损值；tanθ为频率f下的介损值。

6.根据权利要求5所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述步骤S2对频域介电谱的FDS曲线进行平滑处理还包括：对插值后的数据点进行拟合后得到初次FDS曲线，并将得到的初次FDS曲线输入SG滤波器中。

7.根据权利要求6所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：对经过SG滤波器滤波后的初次FDS曲线进行线性平滑。

8.根据权利要求7所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述线性平滑包括三点线性平滑、五点线性平滑和七点线性平滑。

9.根据权利要求1所述的一种频域介电响应测试曲线的平滑处理方法，其特征在于：所述步骤S2中对频域介电谱的FDS曲线进行平滑处理还包括剔除测试曲线上的坏值；具体方法为：对测试得到的介损值进行等精度测量，由此可获得tanθ₁，tanθ₂，…tanθ_n，随后求取算术平均值tanθ和剩余误差Δ_i，其中Δ_i可用下式表示：

Δ_i＝tanθ_i-tanθ；i＝1,2,…,n；

再根据贝赛尔公式可以计算出标准偏差σ；

如果介损值tanθ_j的剩余误差Δ_j满足下式：

|Δ_j|＝|tanθ_j-tanθ|＞3σ；

则认为tanθ_j是含有粗大误差值的坏值，应当予以剔除，其中1≤j≤n。