[发明专利]一种天线罩的最佳厚度的测量方法和系统

权利要求书

1.一种天线罩的最佳厚度的测量方法，其特征在于，包括：

以搭建的介电常数测量系统通过自由空间法测量所述天线罩的材料样品的相对介电常数，其中，所述介电常数测量系统包括相对的发射天线和接收天线、分别与所述发射天线和所述接收天线连接的网络分析仪、以及用于在所述发射天线和所述接收天线之间放置和调节待测样品的夹具；

根据所述材料样品的相对介电常数和预推导出的材料传输损耗公式，计算得到所述材料样品的传输损耗与厚度的曲线，其中，所述材料传输损耗公式为根据电磁波传播理论推导出的材料传输损耗与材料的相对介电常数在一定频率和材料厚度下的关系式；

根据所述材料样品的传输损耗与厚度的曲线确定所述天线罩的最佳厚度。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，

所述材料传输损耗公式为：

其中，f为频率，c为光速，d为材料厚度，ε_r为材料的相对介电常数。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，在测量所述天线罩的材料样品的相对介电常数之前，还包括：

对所述介电常数测量系统进行校准。

4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，

所述对所述介电常数测量系统进行校准的步骤包括：

通过所述网络分析仪进行所述发射天线和所述接收天线的波导端面的TRL校准；

通过所述夹具在所述发射天线和所述接收天线之间设置金属板，进行材料样品端面的GRL校准。

5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，

所述天线罩为用于汽车的毫米波雷达的天线罩。

6.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，

所述天线罩的最佳厚度在2-3mm范围内。

7.一种天线罩的最佳厚度的测量系统，其特征在于，包括：

相对的发射天线和接收天线；

夹具，用于支撑所述发射天线和所述接收天线，并在所述发射天线和所述接收天线之间放置和调节待测样品；

网络分析仪，分别与所述发射天线和所述接收天线连接，用于在将所述天线罩的材料样品作为所述待测样品进行测量时，根据所述发射天线的信号和所述接收天线的信号分析得到所述天线罩的材料样品的相对介电常数；以及

数据处理模块，配置为根据所述材料样品的相对介电常数和预推导出的材料传输损耗公式，计算得到所述材料样品的传输损耗与厚度的曲线，并根据所述材料样品的传输损耗与厚度的曲线确定所述天线罩的最佳厚度，其中，所述材料传输损耗公式为根据电磁波传播理论推导出的材料传输损耗与材料的相对介电常数在一定频率和材料厚度下的关系式。

8.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，

所述发射天线包括与所述网络分析仪连接的第一扩频头，和设置在所述第一扩频头的一端并与所述第一扩频头连接的第一喇叭天线；

所述接收天线包括与所述网络分析仪连接的第二扩频头，和设置在所述第二扩频头的一端并与所述第二扩频头连接的第二喇叭天线。

9.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，

所述夹具包括：

第一基座和第二基座，用于分别支撑所述第一扩频头和所述第二扩频头；

样品台，用于放置所述待测样品；以及

准光学平台，设置有导轨，所述第一基座、所述第二基座和所述样品台可沿所述导轨移动；

其中，所述样品台还设置有数显游标卡尺，用于测量所述待测样品的厚度。

10.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，

所述网络分析仪为矢量网络分析仪；

所述数据处理模块与所述网络分析仪集成为一体。