[发明专利]一种球管出射能谱验证方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种球管出射能谱验证方法，其特征在于，所述方法包括：

获取CT机扫描验证模体所采集到的原始数据；其中，所述原始数据包括多个采集帧数的采集数据，每一采集帧数的采集数据包括多个采集通道采集的数据；其中，所述验证模体包括由第一衰减材质构成的柱体中心区域和由第二衰减材质构成的柱体外围区域；其中，所述第一衰减材质和所述第二衰减材质的质量衰减系数不同；

根据采集到的所述原始数据重建出原始图像；

根据所述原始图像获取衰减长度信息；其中，所述衰减长度信息包括所述柱体中心区域的所述第一衰减材质的衰减长度信息和所述柱体外围区域的所述第二衰减材质的衰减长度信息；

根据所述衰减长度信息获取球管出射能谱经过与所述柱体中心区域长度相同的所述第一衰减材质和与所述柱体外围区域长度相同的所述第二衰减材质后的理论衰减数据；

根据所述原始数据和所述理论衰减数据获取所述球管出射能谱的验证结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述原始图像获取衰减长度信息，包括：

对所述原始图像进行阈值分割获得第一分割图像和第二分割图像；其中，所述第一分割图像包括与所述第一衰减材质构成的柱体中心区域对应的第一中心区域和第一剩余区域，所述第二分割图像包括与所述第二衰减材质构成的柱体外围区域对应的第二环形区域和第二剩余区域；所述第一中心区域和所述第二环形区域分别对应的像素点的像素值为第一像素值；所述第一剩余区域和所述第二剩余区域分别对应的像素点的像素值为第二像素值；

对所述第一分割图像进行正投影操作，获得第一投影数据，并根据所述第一投影数据以及所述原始图像的像素单元尺寸获取多个所述第一衰减材质的第一衰减长度值；

对所述第二分割图像进行正投影操作，获得第二投影数据，并根据所述第二投影数据以及所述原始图像的像素单元尺寸获取多个所述第二衰减材质的第二衰减长度值；

采用多点拟合方式对所述第一衰减长度值和所述第二衰减长度值进行处理，获取所述柱体中心区域对应的所述第一衰减材质的衰减长度信息和所述柱体外围区域对应的所述第二衰减材质的衰减长度信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述衰减长度信息获取球管出射能谱经过与所述柱体中心区域长度相同的所述第一衰减材质和与所述柱体外围区域长度相同的所述第二衰减材质后的理论衰减数据，包括：

根据所述第一衰减材质和所述第二衰减材质的质量衰减系数、所述第一衰减材质和所述第二衰减材质的衰减长度信息以及衰减能谱强度计算公式获取所述球管出射能谱经过相同长度的所述第一衰减材质和所述第二衰减材质后的理论衰减数据；

其中，所述衰减能谱强度计算公式为I_ideal＝N₀*X_spec*A_ideal，I_ideal表示理论衰减数据，N₀表示能谱总光子数，X_spec表示经过归一化处理的球管出射能谱，A_ideal表示连续能谱下的物体衰减公式；其中，E表示能谱总光子能量分布，μ_t、μ_w分别表示所述第一衰减材质和所述第二衰减材质的质量衰减系数，ρ_t、ρ_w分别表示所述第一衰减材质和所述第二衰减材质的密度，l_t、l_w分别表示所述第一衰减材质和所述第二衰减材质的衰减长度信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述原始数据和所述理论衰减数据获取所述球管出射能谱的验证结果之后，所述方法还包括：

若所述验证结果表征所述原始数据和所述理论衰减数据之间的衰减差异不在预设阈值范围内，则根据所述衰减差异对所述球管出射能谱进行修正。