[发明专利]数据访问方法、装置、仿真装置和模拟TCAM芯片

说明书

本发明实施例提供了一种数据访问方法、装置、仿真装置及模拟TCAM芯片，涉及芯片测试技术领域。本发明实施例的技术方案包括：通过模拟协议接口接收DUT发送的查表请求报文，将查表请求报文中的查表信息缓存于延时FIFO模块中，其中查表信息包括查表地址。接着基于查表地址从模拟存储器中读取数据，并基于指定查表响应格式构造查表响应报文，将查表响应报文缓存于输出FIFO模块。其中查表响应报文中包括从模拟存储器中读取的数据，指定查表响应格式与真实TCAM芯片的查表响应格式相同。再通过模拟协议接口向DUT发送输出FIFO模块中缓存的查表响应报文。可以解决无法在开发早期测试DUT性能的问题。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种数据访问方法、装置、仿真装置和模拟TCAM芯片。

背景技术

在芯片开发的过程中，可以在Emulator/FPGA平台上实现芯片的功能，将用于实现芯片功能的模块称为待测设计（design under test，DUT）。为了保证开发出的芯片满足规定的性能要求，需要对DUT进行性能测试，在DUT通过性能测试后，才会按照DUT制造实体芯片。

因芯片在实际工作过程中，需要频繁访问TCAM芯片，所以在测试时，需要控制待测设计（design under test，DUT）访问三态内容寻址存储器（ternary content addressablememory，TCAM）芯片，从而测试DUT的性能。

但是DUT在测试阶段还未被制造为实体芯片，因此无法与实际的TCAM芯片连接，进而无法访问TCAM芯片，导致无法在开发早期测试DUT的性能。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种数据访问方法、装置、仿真装置和模拟TCAM芯片，以解决无法在开发早期测试DUT的性能的问题。具体技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供一种数据访问方法，所述方法应用于模拟TCAM芯片的逻辑处理模块，所述模拟TCAM芯片还包括模拟协议接口、模拟存储器、延时FIFO模块和输出FIFO模块，所述模拟TCAM芯片位于仿真装置中，所述仿真装置中还包括待测设计DUT，所述方法包括：

通过所述模拟协议接口接收DUT发送的查表请求报文；

将所述查表请求报文中的查表信息缓存于所述延时FIFO模块中，所述查表信息包括查表地址；

基于所述查表地址从所述模拟存储器中读取数据；

基于指定查表响应格式构造查表响应报文，将所述查表响应报文缓存于所述输出FIFO模块；所述查表响应报文包括从所述模拟存储器中读取的数据，所述指定查表响应格式与真实TCAM芯片的查表响应格式相同；

通过所述模拟协议接口向所述DUT发送所述输出FIFO模块中缓存的所述查表响应报文。

可选的，将所述查表请求报文中的查表信息缓存于所述延时FIFO模块，具体包括：

在等待时长达到指定时长后，将所述查表请求报文中的查表信息缓存于所述延时FIFO模块中；

在基于所述查表地址从所述模拟存储器中读取数据之前，所述方法还包括：

当监测到所述延时FIFO模块中有新增的查表信息时，从所述延时FIFO模块中获取所述查表地址。

可选的，所述查表信息还包括控制字信息；所述基于指定查表响应格式构造查表响应报文，包括：

从所述延时FIFO模块中获取所述控制字信息；

若基于所述查表地址从所述模拟存储器中读取到数据，则基于所述控制字信息和从所述模拟存储器中读取的数据分别填充所述指定查表响应格式规定的控制字字段和数据字字段，以生成查表成功响应报文；