[发明专利]一种螺线管微线圈集总电参数的测量方法

权利要求书

1.一种螺线管微线圈集总电参数的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据待测螺线管微线圈的尺寸大小设计夹具，所述夹具包括长度相同的两段微带线，所述待测螺线管微线圈焊接在所述夹具的两段微带线中间组成螺线管微线圈待测件；根据所述测螺线管微线圈待测件确定校准件，所述校准件包括直通校准件、反射校准件、传输线校准件；

分别测量螺线管微线圈待测件和校准件的S参数矩阵；

使用TRL去嵌入法根据螺线管微线圈待测件和校准件的S参数矩阵计算出待测螺线管微线圈的S参数矩阵，获得螺线管微线圈的谐振频率和品质因数，同时利用S参数和Z参数的对应关系，得到螺线管微线圈的Z参数矩阵；

根据Z参数矩阵，利用非线性最小二乘拟合法获得螺线管微线圈的等效串联电阻、等效电感、等效并联电容。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述直通校准件包括一段微带线，长度与螺线管微线圈待测件的两段微带线的长度之和相同，所述直通校准件的传输系数为1，反射系数为0。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述反射校准件包括两段微带线，长度均与螺线管微线圈待测件的微带线的长度相同，所述直通校准件的传输系数为0、反射系数为-1。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述传输线校准件包括一段微带线，长度大于螺线管微线圈待测件的微带线，所述传输线校准件相对直通校准件的传输相位延迟在20°到160°之间。

5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，待测螺线管微线圈的S参数矩阵：

其中，s′₁₁、s′₂₁、s′₂₂、s′₁₂为螺线管微线圈待测件的S参数矩阵的测量值，e₃₀是正向泄漏误差，e₀₃是负向泄漏误差，e₁₁是正向匹配误差，e₂₂是负向匹配误差，e₁₀e₀₁是正向反射频率响应误差，e₂₃e₃₂是负向反射频率响应误差，e₁₀e₃₂是正向传输频率响应误差，e₂₃e₀₁是负向传输频率响应误差，e₀₀是正向方向误差，e₃₃是负向方向误差。

6.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于，

e₃₀＝R₂₁

e₀₃＝R₁₂

其中，T₁₁、T₂₁、T₂₂、T₁₂分别表示所述直通校准件S参数矩阵的测量值，R₁₁、R₂₁、R₂₂、R₁₂分别表示所述反射校准件S参数矩阵的测量值，L₁₁、L₂₁、L₂₂、L₁₂分别表示所述传输线校准件S参数矩阵的测量值。

7.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述微带线为金属。