[发明专利]一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置及方法

权利要求书

1.一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置，其特征在于，包括第一光纤耦合器、第一光纤盘、第二光纤耦合器、第二光纤盘、第三光纤耦合器、第三光纤盘、光开关、光衰减器和定时器；

所述第二光纤耦合器、所述第二光纤盘、所述第三光纤耦合器、所述第三光纤盘、所述光开关和所述光衰减器依次连接，所述光衰减器与所述第二光纤耦合器连接，构成光纤传输环路；

所述第一光纤耦合器与所述第二光纤耦合器连接，所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器之间设置所述第一光纤盘；

所述第一光纤耦合器还与所述定时器连接，所述定时器与所述光开关连接;

所述第一光纤耦合器和所述定时器之间依次设置有可调光滤波器和O/E模块；所述第二光纤耦合器和所述第二光纤盘之间依次设置有第一放大器和第一光隔离器；所述第二光纤盘和所述第三光纤耦合器之间依次设置有第二放大器和第二光隔离器；所述第一光纤耦合器连接待测相干光时域反射计的输出端，所述第三光纤耦合器连接待测相干光时域反射计的输入端。

2.如权利要求1所述的一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置，其特征在于，所述第一放大器用于补偿光信号在所述第三光纤耦合器、所述第三光纤盘、所述光开关、所述光衰减器和所述第二光纤耦合器光纤传输环路中的损耗；所述光衰减器用于调整光路的损耗，保持光纤传输环路的损耗与所述第一放大器的增益相匹配。

3.如权利要求1所述的一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置，其特征在于，所述第一光纤盘、所述第二光纤盘和所述第三光纤盘的光纤长度均设置在20km～100km之间。

4.如权利要求3所述的一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置，其特征在于，所述第二光纤盘的光纤长度不小于所述第一光纤盘和所述第三光纤盘各自的光纤长度。

5.如权利要求3所述的一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置，其特征在于，所述定时器的计时时间最大设置为200ms。

6.一种长距离可编程光纤光缆损耗分布测试方法，其特征在于，采用了如权利要求1-5任一项所述的长距离可编程光纤光缆损耗分布测试装置，包括：

设置定时器的计时时间，所设时间大小应与相干光时域反射计的测试量程匹配；

设置可调光滤波器的工作波长，使得工作波长与相干光时域反射计所设置的互补波长一致；

设置光衰减器的衰减值，使得循环光路中的光路损耗与放大器的增益相匹配；

相干光时域反射计发射端发出的探测光脉冲入射到第一光纤耦合器，并分成两路，一路入射到可调光滤波器，经O/E模块转换成电脉冲后输出到定时器，启动计时，同时，同步控制光开关闭合光路；当定时器计时结束时，输出定时结束信号，控制光开关断开光路；另一路经第一光纤盘入射到第二光纤耦合器，输出后入射到第一放大器，放大后的信号依次经过第一光隔离器、第二光纤盘、第二放大器和第二光隔离器输出到第三光纤耦合器，耦合输出后通过第三光纤盘入射到光开关的输入端；

当定时器计时未结束时，入射到光开关的前向光经光衰减器输出后入射到第二光纤耦合器，耦合输出后入射到第一放大器，经放大后的光信号再次经第一光隔离器、第二光纤盘、第二放大器和第二光隔离器后，输出到第三光纤耦合器，耦合输出，开始下一次循环；

当定时器计时结束时，控制光开关断开光路，光脉冲在光纤传输环路的循环传输结束；

第三光纤耦合器输出的光脉冲信号在经第三光纤盘和光开关光路中循环的过程中，光路中各点的后向散射信号及后向反射信号将陆续返回到第三光纤耦合器，耦合输出后入射到相干光时域反射计的接收端。