[发明专利]一种基于腔体滤波器散射参数与螺钉映射提取的调试方法有效

专利信息
申请号: 202111121497.9 申请日: 2021-09-24
公开(公告)号: CN114050386B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 邱文斌 申请(专利权)人: 苏州畅恒通信科技有限公司
主分类号: H01P1/207 分类号: H01P1/207;G06F17/16
代理公司: 南京乐羽知行专利代理事务所(普通合伙) 32326 代理人: 缪友建
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 滤波器 散射 参数 螺钉 映射 提取 调试 方法
【权利要求书】:

1.一种基于腔体滤波器散射参数与螺钉映射提取的调试方法,其特征在于:所述调试方法包括以下步骤:

S1,数据采集步骤,包括利用检测仪器对待测滤波器在完美状态下进行检测,得到待测滤波器的标准S参数矩阵;再通过对待测滤波器的每颗螺钉进行调节,获得每颗螺钉的S参数的波形影响数据,得到螺钉影响S参数采集矩阵;S1具体包括:

S11,将所述待测滤波器调试至完美状态,记录现在完美状态下的参数,设为标准S参数矩阵为;

S12,依次对所述待测滤波器的每颗螺钉采取以下动作:

a)保存待测滤波器完美状态下的当前S参数,,n是所选的螺钉编号;

b)顺时针转动螺钉,每转动一次StepHeight(StepHeight即为固定的采样高度),记录一下波形影响数据S参数,共计u次;然后将所述螺钉调节回到初始状态;再逆时针转动螺钉,每转动一次StepHeight,记录一下波形影响数据S参数,共计v次,则可以生成以下矩阵:

c)完成所有螺钉调节波形影响数据采集后,可以得到待测滤波器所有螺钉影响S参数的集合:

将矩阵展开:

,其中(1);

S2,进行搜索树预测步骤,包括对待测滤波器在初始状态下进行检测,得到当前待测滤波器的S参数;再将S1中得到的所述标准S参数矩阵、所述螺钉影响S参数采集矩阵进行数据计算,得到待测滤波器的螺钉S参数预测函数;

S3,进行螺钉调试步骤,利用S2中得到的所述S参数预测函数,根据射频指标,通过对待测滤波器的螺钉进行调节,调节至满足射频指标的螺钉高度,直至待测滤波器达到射频指标。

2.根据权利要求1所述的一种基于腔体滤波器散射参数与螺钉映射提取的调试方法,其特征在于:所述检测仪器为矢量网络分析仪。

3.根据权利要求2所述的一种基于腔体滤波器散射参数与螺钉映射提取的调试方法,其特征在于:步骤S2具体数据计算包括:

S11中待测滤波器在稳定工况时,得到的标准S参数矩阵,根据螺钉编号,记为;将矩阵展开:

(2);

将矩阵(1)-(2),得

(3);

从仪表中读出待测滤波器初始状态下S参数,设,根据螺钉编号,记为 ;将矩阵展开:

(4);

将矩阵(3)+(4),即得搜索树的展开结果:

获得S参数预测函数。

4.根据权利要求3所述的一种基于腔体滤波器散射参数与螺钉映射提取的调试方法,其特征在于:步骤S3具体包括:设预测函数为P,其可写为:

利用上式可以解得在不同情况下,调节每个螺钉,可以预测出波形变化的情况,然后对经行评价,评价函数用欧几里得距离:

找出矩阵中最大的元素,其中i就是要选择调节的螺钉编号,j就是其应该停的高度,建立:

循环迭代以上步骤,直至滤波器达到射频指标。

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