[发明专利]一种电路和包括其的测试装置

说明书

本发明的一个实施例公开了一种电路和测试装置，所述电路用于测量测试系统的对地电容和电阻，包括：测量点，在测量周期中所述测试系统的测试探头与所述测量点电接触；上拉模块，在测量周期的第一阶段，为所述测量点提供第一电位V1；自举模块，在测量周期的第二阶段，将所述测量点的电位从第一电位V1拉升到第二电位V2，其中，所述测量点在测量周期的第三阶段通过所述测试系统的对地电阻放电以使得电位从第二电位V2下降至第三电位V3；下拉模块，在测量周期的第四阶段，将所述测量点的电位从所述第三电位V3下拉至第四电位V4。

技术领域

本发明涉及测量电路技术领域，具体涉及一种电路和包括其的测试装置。

背景技术

示波器、Probe机台等测试系统广泛应用于电子电气及半导体行业，常用于测量PCB板电路信号、半导体集成电路的输出时序信号，验证电路输出信号的准确性及有效性。测试系统自身存在对地电容及电阻，有的测试系统会注明对地电容及电阻值，如示波器和探棒，示波器探棒上会标注对该探棒的对地电容及对地电阻值，例如某型号的示波器探棒的对地电容是3.9pF，对地电阻是10MΩ，但在使用过程中，由于示波器和探棒的老化，其对地电阻和电容值可能发生相应的变化，标注的对地电容及电阻值已不准确；有的测试系统如示波器和Probe机台，其对地电容及电阻值没有特定规格，如何测量出测试系统精确的对地电阻和电容值是亟需解决的一大问题。器件或系统的电阻、电容值一般可用万用表测量，但常规的万用表电容测试刻度在10pF，电阻测试量程在MΩ级，对于对地电容是pF级，电阻是MΩ级的器件或系统，无法用万用表精确测量出，需要用更昂贵和庞大的精密仪器进行测量，测量成本较高且不便捷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电路和测试装置，用于测量测试系统的对地电容和电阻，如对时序信号进行测试的测试系统的对地电容和电阻，能够对电容为pF量级、电阻为MΩ量级的测试系统进行精确测量，测试简单且便捷。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明一方面提供一种电路，用于测量对时序信号进行测试的测试系统的对地电容和电阻，包括：

测量点，在测量周期中所述测试系统的测试探头与所述测量点电接触；

上拉模块，在测量周期的第一阶段，为所述测量点提供第一电位V1；

自举模块，在测量周期的第二阶段，将所述测量点的电位从第一电位V1拉升到第二电位V2，其中，所述测量点在测量周期的第三阶段通过所述测试系统的对地电阻放电以使得电位从第二电位V2下降至第三电位V3；

下拉模块，在测量周期的第四阶段，将所述测量点的电位从所述第三电位V3下拉至第四电位V4，

其中，测量过程包括至少一个所述测试周期，在所述测量过程中，所述测试系统获取所述第一电位V1、第二电位V2和第三电位V3，并且其中，所述测试系统的对地电容基于在所述第二阶段的抬升电压V2-V1与所述自举模块的自举电容的关系得到，所述测试系统的对地电阻基于在第三阶段所述测量点的电荷减少量等于所述测试系统对地放电的电荷量得到。

在一个具体实施例中，

所述上拉模块包括第一开关器件，所述第一开关器件的控制端接收控制信号，输入端接收第一输入信号，输出端与所述测量点电连接；

所述自举模块包括第二开关器件和自举电容器，其中，所述第二开关器件的控制端与所述测量点电连接，输入端接收第二输入信号，并且其中，所述自举电容器的第一端与所述测量点电连接；

所述下拉模块包括第三开关器件，所述第三开关器件的控制端接收第三输入信号，输入端接收第四输入信号，输出端与所述第二开关器件的输出端以及自举电容器的第二端电连接。

在一个具体实施例中，